[发明专利]一种红外探测器非均匀性校正系数的修正方法及装置

权利要求书

1.一种红外探测器非均匀性校正系数的修正方法，其特征在于，包括：

预先利用两点校正法计算红外探测器在第一预设温度时的第一非均匀性校正系数，及在第二预设温度时的第二非均匀性校正系数，并获取红外探测器焦平面阵列温度-温度修正值表；

获取红外探测器焦平面阵列的当前温度，根据所述当前温度获取相对应的温度修正值；

利用下述公式，根据所述第一非均匀性校正系数、所述第二非均匀性校正系数、所述温度修正值计算使用非均匀性校正系数，以作为所述红外探测器当前温度相对应的非均匀性校正系数：

Gx＝GL*α+GH*(1-α)；

式中，Gx为所述使用非均匀性校正系数，GL为所述第一非均匀性校正系数，GH为所述第二非均匀性校正系数，α为所述温度修正值；

其中，所述第一预设温度与所述第二预设温度均为红外探测器焦平面阵列温度。

2.根据权利要求1所述的红外探测器非均匀性校正系数的修正方法，其特征在于，所述根据所述当前温度获取相对应的温度修正值包括：

根据所述当前温度在预建的所述红外探测器焦平面阵列温度-温度修正值表中，查找相对应的非均匀性校正系数，以作为所述红外探测器当前温度对应的温度修正值；

所述红外探测器焦平面阵列温度-温度修正值表为所述红外探测器焦平面阵列的温度与该温度下的非均匀性校正系数的对应关系表。

3.一种红外探测器非均匀性校正系数的修正装置，其特征在于，包括：

修正参考值计算模块，用于预先利用两点校正法计算红外探测器在第一预设温度时的第一非均匀性校正系数，在第二预设温度时的第二非均匀性校正系数；

获取信息模块，用于获取红外探测器焦平面阵列的当前温度，根据所述当前温度获取相对应的温度修正值；

系数修正模块，用于根据所述第一非均匀性校正系数、所述第二非均匀性校正系数、所述温度修正值计算使用非均匀性校正系数，以作为所述红外探测器当前温度相对应的非均匀性校正系数；

其中，所述系数修正模块为利用下述公式，根据所述第一非均匀性校正系数、所述第二非均匀性校正系数、所述温度修正值计算使用非均匀性校正系数的模块：

Gx＝GL*α+GH*(1-α)；

式中，Gx为所述使用非均匀性校正系数，GL为所述第一非均匀性校正系数，GH为所述第二非均匀性校正系数，α为所述温度修正值。

4.根据权利要求3所述的红外探测器非均匀性校正系数的修正装置，其特征在于，所述获取信息模块为根据所述当前温度在预建的红外探测器焦平面阵列温度-温度修正值表中，查找相对应的非均匀性校正系数，以作为所述红外探测器当前温度对应的温度修正值；所述红外探测器焦平面阵列温度-温度修正值表为所述红外探测器焦平面阵列的温度与该温度下的非均匀性校正系数的对应关系表的模块。