[发明专利]一种可配置寄存器文件自测试方法及生成装置有效

专利信息
申请号: 201711193983.5 申请日: 2017-11-24
公开(公告)号: CN108062267B 公开(公告)日: 2021-07-09
发明(设计)人: 郭阳;邓丁;屈婉霞;宋结兵;胡春媚;李振涛;扈啸 申请(专利权)人: 中国人民解放军国防科技大学
主分类号: G06F11/263 分类号: G06F11/263;G06F11/22
代理公司: 湖南兆弘专利事务所(普通合伙) 43008 代理人: 周长清
地址: 410073 湖南*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 一种 配置 寄存器 文件 测试 方法 生成 装置
【权利要求书】:

1.一种可配置寄存器文件自测试方法,其特征在于,步骤为:

S1.设置寄存器文件的参数;

S2.生成对应的自测试逻辑;

所述步骤S2中生成寄存器自测试所需的自测试控制器,包含:

S2.1自测试算法控制器,用于控制整个寄存器文件自测试的读写操作;

S2.2地址生成器、数据生成器,用于在自测试算法控制器的控制之下,产生满足算法要求的测试地址序列,以及在自测试算法控制器的控制之下,产生满足算法要求的测试数据序列;

S2.3比较器,用于将从寄存器文件中读取出来的数据与算法要求中的期望值作对比;S3.将自测试逻辑与寄存器文件进行连接,并生成验证仿真环境;

所述步骤S3的具体步骤包括:

S3.1为寄存器文件的所有输入,输出端口添加测试路径,寄存器文件能够在自测试模式时,得到算法要求的激励,并将响应反馈回测试逻辑;

S3.2将步骤S2生成的自测试逻辑与寄存器文件以及为其提供测试数据路径的电路单元连接并整合起来,形成一个完整的寄存器文件_测试块;

S3.3自动生成用于验证自测试逻辑功能正确性的测试激励文件以及仿真环境。

2.根据权利要求1所述的可配置寄存器文件自测试方法,其特征在于,所述步骤S1的参数包括:测试时钟周期以及寄存器时钟端口名、写端口数、写端口名、读端口数、读端口名、数据位宽、数据端口名、地址位宽、地址端口名、有无读时钟、有无写时钟、有无读使能、有无写使能、有无芯片使能、完成一个读操作所需的时钟周期、完成一个写操作所需的时钟周期。

3.根据权利要求1所述的可配置寄存器文件自测试方法,其特征在于,所述步骤S2.1自测试算法控制器采用存储器自测试的MarchC+算法,并对该算法中的读操作拓展到所有读端口;其中每一行称作一个march step,每一行的up或down指明该march step的方向,也即操作地址是在递增还是递减。

4.根据权利要求1所述的可配置寄存器文件自测试方法,其特征在于,所述步骤S2.2地址生成器由一个受控双向计数器构成,其加减模式选择信号,加减使能信号由算法控制器中的地址控制模块提供;所述数据生成器为一个二选一选择器。

5.根据权利要求1所述的可配置寄存器文件自测试方法,其特征在于,所述比较器对每一数据端口内部两两逐级进行与操作和或操作,然后再将与结果和或结果的非通过一个二选一选择器得到指示该端口比较值与参考值是否一致的比较结果。

6.一种可配置寄存器文件自测试生成装置,其特征在于,包括:

寄存器文件参数输入模块,用于输入并记录将要测试的寄存器文件的各种参数;

自测试逻辑生成模块,用于根据寄存器文件参数输入模块中记录下的寄存器文件参数,自动生成满足本发明测试算法要求的自测试控制器verilog代码;

连线仿真模块,用于自动为生成的自测试控制器与寄存器文件连线,整合成宏观上更高层次的寄存器_测试模块的verilog代码,并对该模块自动生成测试激励文件并搭建验证仿真环境;

所述自测试逻辑生成模块生成的模块包括:

自测试算法控制器模块,用于控制整个寄存器文件自测试的读写操作;

自测试地址生成器模块,用于在自测试算法控制器的控制之下,产生满足算法要求的测试地址序列;

自测试数据生成器模块,用于在自测试算法控制器的控制之下,产生满足算法要求的测试数据序列;

自测试比较器模块,用于将从寄存器文件中读取出来的数据与算法要求中的期望值作对比;所述连线仿真模块用于将自测试模式与正常工作模式融合于被测试寄存器文件,从而构建起一个寄存器文件_测试块,同时生成验证自测试逻辑功能正确性的测试激励文件与验证环境;该连线仿真模块包括:

寄存器文件包裹模块,用于为寄存器文件添加测试路径;

寄存器文件_测试块模块,用于连接整合自测试逻辑与寄存器文件,对外形成一个更高层次的具有自测试功能的寄存器文件块;

测试激励与验证环境模块,用于测试最终形成的Regfile_Test_Block模块的功能正确性。

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