[发明专利]一种测量容器、测量系统及测量方法

权利要求书

1.一种测量容器，其特征在于：

所述测量容器设有容纳腔；

围设形成所述容纳腔的壁面包括透光部和反光部；

所述透光部形成测试点；

所述反光部设有反光层，使得所述容纳腔内的光射至所述反光层后，回射至所述容纳腔。

2.根据权利要求1所述的测量容器，其特征在于：

所述测量容器包括一开有第一凹槽的容器主体，所述第一凹槽形成所述容纳腔。

3.根据权利要求2所述的测量容器，其特征在于：

所述测量容器还包括用于支撑所述容器主体的支撑部，所述支撑部与所述容器主体可拆卸式连接；

或，

所述测量容器还包括用于支撑所述容器主体的支撑部，所述支撑部由所述第一凹槽的底面朝向远离所述容纳腔一侧的方向凸起形成；

或，

所述测量容器还包括用于支撑所述容器主体的支撑部，所述支撑部由所述测量容器的底部形成。

4.根据权利要求2所述的测量容器，其特征在于：

所述测量容器还包括一用于打开或封闭所述容纳腔的盖体。

5.根据权利要求4所述的测量容器，其特征在于：

所述盖体与所述容器主体可拆卸式密封连接；

和/或，

所述盖体设有所述透光部。

6.根据权利要求2-5任意一项所述的测量容器，其特征在于：

所述第一凹槽包括第一底面和第一侧面，所述第一凹槽的第一侧面设有所述透光部；

或，

所述第一凹槽包括第一底面和第一侧面，所述第一凹槽的第一侧面设有一对相对设置的所述透光部。

7.根据权利要求1-5任意一项所述的测量容器，其特征在于：

所述测量容器还包括用于固定探头的固定机构；

所述固定机构由所述壁面朝向所述容纳腔一侧的方向内凹形成的第二凹槽构成，所述第二凹槽包括第二底面和第二侧面；

所述第二底面形成所述透光部；

或，

所述测量容器还包括用于固定探头的固定机构；

所述固定机构由围设所述透光部的环壁结构构成；

所述环壁结构由所述壁面朝向远离所述容纳腔一侧的方向凸起形成。

8.一种测量系统，其特征在于，包括：

P700测量仪，所述P700测量仪包括探头和测量仪主体；以及，

上述权利要求1-8任意一项所述的测量容器；

所述探头与所述测量点相适配。

9.根据权利要求8所述的测量系统，其特征在于：

所述探头为光纤探头，所述测量容器设有一个所述测量点；

或，

所述探头包括发射探头和检测探头，所述测量容器设有一对相对设置的所述测量点。

10.一种适用上述权利要求8或9的所述测量系统的测量方法，其特征在于，包括步骤：

S100，根据所述测量容器的测量需要加入待测样品；

S200，将所述探头置于所述测量容器的测量点处；

S300，获取所述探头检测到的检测数据。