[发明专利]一种判断测量阻抗在四边形阻抗特性内的方法及系统

权利要求书

1.一种判断测量阻抗在四边形阻抗特性内的方法，其特征在于，包括：

(1)根据距离保护整定计算信息得到四边形阻抗特性各边界；

(2)由距离保护安装处的测量电阻和距离保护安装处的测量电抗得到测量阻抗，并确定测量阻抗所在象限；

(3)根据测量阻抗所在象限，将距离保护安装处的测量电阻和距离保护安装处的测量电抗与四边形阻抗特性边界电阻或边界电抗的极限值进行比较，以判断测量阻抗是否在四边形阻抗特性内。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在步骤(1)中，四边形阻抗特性各边界表示为：

其中，R_zd表示负荷限制电阻定值，θ₁表示第一边界的偏移角定值，θ₂表示第二边界的偏移角定值，X_zd表示距离保护电抗定值，θ₃表示第四边界的偏移角定值，θ₄表示第五边界的偏移角定值，距离保护阻抗继电器的动作范围为第一边界、第二边界、第三边界、第四边界、第五边界以及第六边界的边界线包围的部分。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，步骤(2)包括：距离保护安装处的测量电阻R和距离保护安装处的测量电抗X与测量阻抗所在象限的关系为：

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，步骤(3)包括：

(3.1)若测量阻抗在第Ⅰ象限，则在且(R-R_zd)tanθ₁≤X≤-Rtanθ₂+X_zd，或者，R＜R_zd且X≤-Rtanθ₂+X_zd时，测量阻抗在四边形阻抗特性内，否则测量阻抗不在四边形阻抗特性内；

(3.2)若测量阻抗在第Ⅱ象限，则在X≤X_zd且R≥-Xtanθ₃时测量阻抗在四边形阻抗特性内，否则测量阻抗不在四边形阻抗特性内；

(3.3)若测量阻抗在第Ⅲ象限，则测量阻抗不在四边形阻抗特性内；

(3.4)若测量阻抗在第Ⅳ象限，则在R≤R_zd且X≥-Rtanθ₄时测量阻抗在四边形阻抗特性内，否则测量阻抗不在四边形阻抗特性内。

5.一种判断测量阻抗在四边形阻抗特性内的系统，其特征在于，包括：

第一确定模块，用于根据距离保护整定计算信息得到四边形阻抗特性各边界；

第二确定模块，用于由距离保护安装处的测量电阻和距离保护安装处的测量电抗得到测量阻抗，并确定测量阻抗所在象限；

第三确定模块，用于根据测量阻抗所在象限，将距离保护安装处的测量电阻和距离保护安装处的测量电抗与四边形阻抗特性边界电阻或边界电抗的极限值进行比较，以判断测量阻抗是否在四边形阻抗特性内。

6.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，所述第一确定模块得到的四边形阻抗特性各边界表示为：

其中，R_zd表示负荷限制电阻定值，θ₁表示第一边界的偏移角定值，θ₂表示第二边界的偏移角定值，X_zd表示距离保护电抗定值，θ₃表示第四边界的偏移角定值，θ₄表示第五边界的偏移角定值，距离保护阻抗继电器的动作范围为第一边界、第二边界、第三边界、第四边界、第五边界以及第六边界的边界线包围的部分。

7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述第二确定模块用于根据确定测量阻抗所在象限。

8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述第三确定模块包括：

第一确定子模块，用于在测量阻抗在第Ⅰ象限时，在且(R-R_zd)tanθ₁≤X≤-Rtanθ₂+X_zd，或者，R＜R_zd且X≤-Rtanθ₂+X_zd时测量阻抗在四边形阻抗特性内，否则测量阻抗不在四边形阻抗特性内；

第二确定子模块，用于在测量阻抗在第Ⅱ象限时，在X≤X_zd且R≥-Xtanθ₃时测量阻抗在四边形阻抗特性内，否则测量阻抗不在四边形阻抗特性内；

第三确定子模块，用于在测量阻抗在第Ⅲ象限时，测量阻抗不在四边形阻抗特性内；

第四确定子模块，用于在测量阻抗在第Ⅳ象限时，在R≤R_zd且X≥-Rtanθ₄时测量阻抗在四边形阻抗特性内，否则测量阻抗不在四边形阻抗特性内。