[发明专利]一种基于BIM的基坑监测测点快速选取方法

说明书

本发明公开了一种基于BIM的基坑监测测点快速选取方法，采用以下步骤：一)建立基坑工程监测点与BIM模型中基坑监测测点一一对应，二)在BIM模型的世界坐标系O‑XYZ中，建立本地坐标系O₁‑X₁Y₁Z₁，三)确定本地坐标系O₁‑X₁Y₁Z₁与世界坐标系O‑XYZ之间的转换关系，四)将基坑监测测点在世界坐标系O‑XYZ中的坐标值转换为本地坐标系O₁‑X₁Y₁Z₁中的坐标值，用(a,b,c)表示，五)判断基坑监测测点(a,b,c)a的绝对值是否小于等于L/2，b和c的绝对值是否小于等于设定值，如果是，被选中，如果否，未被选中。本发明能够快速批量地框选三维模型中同一剖面附近的测点元素。

技术领域

本发明涉及图形学和BIM技术，具体地，涉及基于BIM的基坑监测测点快速选取方法。

背景技术

BIM(Building Information Modeling)，即建筑信息模型，是一种新型的工程建设行业的计算机应用技术，以建筑工程项目相关信息数据作为模型应用的基础。

大部分建筑工程都存在基坑作业部分，由于基坑作业普遍风险性较大，需在建设过程中，实时对基坑安全进行监测。近几年来，借助BIM模型可视化的特点，在三维虚拟场景中展示监测数值，让工程技术人员可以直观地了解每一项监测数据所对应的现场空间位置，这样的方式已经逐步在取代传统监测利用cad图纸对应监测数据和监测点位置的方法。然而，目前BIM模型查看监测数据仍存在瓶颈和待突破点，比如，在BIM模型中选取某一剖面附近的大批量测点的方式是：参照cad平面图，在模型中逐个点击测点元素选取，再进行后续分析，这样的方式比较耗时，且容易漏选、错选，效率很低，用户体验极差。

发明内容

本发明为解决公知技术中存在的技术问题而提供一种基于BIM的基坑监测测点快速选取方法，采用该方法能够快速批量地框选三维模型中同一剖面附近的测点元素。

本发明为解决公知技术中存在的技术问题所采取的技术方案是：一种基于BIM的基坑监测测点快速选取方法，采用以下步骤：一)根据基坑工程监测点，在BIM模型中设置基坑监测测点，基坑工程监测点与BIM模型中基坑监测测点一一对应，二)在BIM模型的世界坐标系O-XYZ中，以用户指定路径作为X₁轴、以用户指定路径起点指向终点的方向为X₁轴正方向，以指定路径的中心作为原点O₁、竖直方向为Y₁轴、以竖直向上的方向为Y₁轴的正方向，垂直X₁O₁Y₁平面的直线为Z₁轴建立本地坐标系O₁-X₁Y₁Z₁，三)确定本地坐标系O₁-X₁Y₁Z₁与世界坐标系O-XYZ之间的转换关系，四)将基坑监测测点在世界坐标系O-XYZ中的坐标值转换为本地坐标系O₁-X₁Y₁Z₁中的坐标值，用(a,b,c)表示，五)判断基坑监测测点(a,b,c)a的绝对值是否小于等于L/2，b和c的绝对值是否小于等于设定值，如果是，则基坑监测测点被选中，如果否，则基坑监测测点未被选中，其中L为用户指定路径的长度。

所述步骤三)，本地坐标系O₁-X₁Y₁Z₁与世界坐标系O-XYZ之间的转换关系为：

P_本地＝M₁M₃M₂P_世界