[发明专利]一种相位差测量波形发生装置在审
| 申请号： | 201711207663.0 | 申请日： | 2017-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN109842398A | 公开（公告）日： | 2019-06-04 |
| 发明（设计）人： | 刘志壮 | 申请（专利权）人： | 湖南科技学院 |
| 主分类号： | H03K5/00 | 分类号： | H03K5/00;G06F1/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 425199 湖南*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 二分频电路 双积分电路 正弦波 输出 波形发生装置 可调分频器 相位差测量 移相电路 整形电路 信号源 整形电路输出 两路信号 脉冲信号 三角波 方波 分频 | ||
1.一种相位差测量波形发生装置，其特征包括信号源（1）、可调分频器（2）、双二分频电路（3），双积分电路（4）、双整形电路（5）和移相电路（6）；信号源（1）连接到可调分频器（2）和双二分频电路（3），可调分频器（2）连接双二分频电路（3），双二分频电路（3）连接到双积分电路（4），双积分电路（4）连接到双整形电路（5），双整形电路（5）连接到移相电路（6）。
2.根据权利要求1所述的一种相位差测量波形发生装置，其特征是信号源（1）由芯片ICL8038及外围电阻和电容构成; ICL8038的引脚9为方波输出端P1。
3.根据权利要求1或2所述的一种相位差测量波形发生装置，其特征是可调分频器（2）由芯片MC14522及外围电阻、开关构成；开关K4、K3、K2和K1用于控制分频数，各代表的分频数为8、4、2、1，由开关K4、K3、K2和K1控制可以进行1～15分频；待分频方波
4.根据权利要求1或3所述的一种相位差测量波形发生装置，其特征是双二分频电路（3）由芯片74LS93构成；74LS93的引脚1、9为第一路二分频器的输入与输出端，74LS93的引脚14、12为第二路二分频器的输入与输出端；方波
5.根据权利要求1所述的一种相位差测量波形发生装置，其特征是双积分电路（4）和移相电路（6）采用芯片LM324运算放大器，该芯片包括A、B、C、D四个独立运放，其中LM324运算放大器的A、B两组放大器及相关电阻、电容构成两个相互独立的积分电路；LM324运算放大器的C、D两组放大器及相关电阻、电容构成移相电路（6）。
6.根据权利要求1所述的一种相位差测量波形发生装置，其特征是双整形电路（5）包括两组整形网络，由二极管和电阻构成；第一组整形网络由二极管D1、D2、D3、D4、D9、D10、D11、D12及相应电阻，第二组整形网络由D5、D6、D7、D8、D13、D14、D15、D16及相应电阻。
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