[发明专利]工业控制计算机温度应力测试装置

说明书

本发明提供一种工业控制计算机温度应力测试装置。所述装置包括：试验箱、外部供电装置及独立温控循环系统，所述独立温控循环系统包括位于所述试验箱内部的带有保温层的恒温腔体及位于所述试验箱外部的冷却循环机器，所述恒温腔体通过导流管与所述冷却循环机器相连。本发明能够使不耐受高温的治具和部件在恒温环境中正常工作，从而使工业控制计算机主板的温度应力测试正常进行。

技术领域

本发明涉及工业控制计算机测试技术领域，尤其涉及一种工业控制计算机温度应力测试装置。

背景技术

由于工业现场的应用需求，需要对工业控制计算机进行严格的可靠性测试，包括高低温测试等，在测试过程中，需要对测试接口外接测试治具，还需要将电源、硬盘、测试工装等连接延长线进行测试，连接示意图如图1所示。如此以来，在进行高温和低温测试时，会出现延长线损耗过大，受到设备压缩机启停时的EMI(Electro-Magnetic Interference，电磁干扰)的干扰概率增加，容易引起连接失效，影响测试精度或者无法测试的问题，导致测试无法进行。

发明内容

本发明提供的工业控制计算机温度应力测试装置，能够使不耐受高温的治具和部件在恒温环境下正常工作，从而保证工业控制计算机主板的温度应力测试正常进行。

第一方面，本发明提供一种工业控制计算机温度应力测试装置，所述装置包括：试验箱、外部供电装置及独立温控循环系统，所述独立温控循环系统包括位于所述试验箱内部的带有保温层的恒温腔体及位于所述试验箱外部的冷却循环机器，所述恒温腔体通过导流管与所述冷却循环机器相连；其中，

所述试验箱，用于为待测试主板提供阶梯式温度递增或递减的测试环境；

所述外部供电装置，用于为所述待测试主板供电；

所述恒温腔体，用于为测试所需要的关键部件提供恒温环境；

所述冷却循环机器，用于控制所述恒温腔体的温度。

可选地，所述测试所需要的关键部件包括：电源、测试治具、硬盘及CPU冷却头。

可选地，所述电源与所述外部供电装置相连，并通过电源线与所述待测试主板相连，为所述待测试主板供电。

可选地，所述测试治具通过测试线与所述待测试主板的接口相连，用于测试所述接口的性能。

可选地，所述硬盘通过SATA线与所述待测试主板的SATA接口相连，用于测试所述SATA接口的性能。

可选地，所述CPU冷却头直接与所述待测试主板的CPU相连，用于控制所述CPU的工作温度。

可选地，所述冷却循环机器的冷却介质为水或无水乙醇。

本发明提供的工业控制计算机温度应力测试装置，包括试验箱、外部供电装置及独立温控循环系统，所述独立温控循环系统包括位于所述试验箱内部的带有保温层的恒温腔体及位于所述试验箱外部的冷却循环机器，所述恒温腔体通过导流管与所述冷却循环机器相连。与现有技术相比，本发明通过将测试区和恒温区隔离，使不能耐受高温的治具和部件在恒温环境下正常工作，从而能够保证被测样品极限温度应力测试的顺利进行。

附图说明

图1为现有技术中对工业控制计算机独立部件或模块进行温度测试的连接示意图；

图2为本发明一实施例工业控制计算机温度应力测试装置的结构示意图；

图3为本发明另一实施例工业控制计算机温度应力测试装置的结构示意图。

具体实施方式