[发明专利]半导体器件及其制备方法有效
申请号: | 201711217590.3 | 申请日: | 2017-11-28 |
公开(公告)号: | CN109841708B | 公开(公告)日: | 2022-05-31 |
发明(设计)人: | 张韵;赵璐;张连 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L33/12;H01L21/02;H01L21/324 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 任岩 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体器件 及其 制备 方法 | ||
本公开提供了一种半导体器件及其制备方法。其中,所述半导体器件的制备方法,包括以下步骤:在衬底上溅射沉积AlN缓冲层;以及采用MOCVD工艺在所述AlN缓冲层上形成功能层,完成所述半导体器件的制备。本公开半导体器件及其制备方法,制备时间短,成本低廉,可大规模制备,提高了外延材料质量和器件性能,实现了大型工业MOCVD批量化生产。
技术领域
本公开涉及半导体技术领域,特别涉及一种适用大型工业MOCVD设备的半导体器件及其制备方法。
背景技术
基于AlGaN外延的紫外LED可以广泛应用在杀菌消毒、生化检测、信息储存、雷达探测、保密通讯以及白光照明等领域。相比于传统紫外光源,紫外LED具有体积小、功耗低、使用安全等优点,因而受到了越来越多的关注。
由于缺乏价廉同质AlN衬底,AlGaN基紫外LED通常采用蓝宝石等价格低廉的异质衬底。AlN材料通常作为缓冲层置入到衬底和AlGaN之间,用于缓解异质衬底与AlGaN材料的晶格失配与热失配。目前,高质量的AlN缓冲层通常在小型MOCVD设备中制备,其生长温度大多高于1200℃。大型工业MOCVD在蓝宝石衬底上外延生长AlN时,由于温度较高且反应炉较大,炉内热场和流场难以控制,而且预反应强烈,目前还难以利用大型工业MOCVD制备出紫外LED所需的AlN薄膜。由于上述原因,目前可商用的深紫外LED芯片基本由小型MOCVD(如单片机、三片机)设备生产,这使得紫外LED的成本居高不下。高温因素的限制迫使人们研究新的生长工艺,以在较低的温度下大规模生长高质量AlN薄膜。
目前,MOCVD是用于制备紫外LED,特别是高Al组分AlGaN基深紫外LED的最常用方法。然而,AlN缓冲层作为AlGaN基LED中不可或缺的一部分,通常需要较高的生长温度。大范围均匀的高温热场分布对于大型工业化MOCVD设备来说是一个难以解决的技术难点。因此AlGaN基LED通常由小型MOCVD设备制备。这严重制约了AlGaN基紫外LED的大规模量产,并导致其成本居高不下。
目前,虽然有采用磁控溅射技术生长AlN薄膜,但其主要是生产AlN薄成核层(200nm以下),且其制得的AlN晶体质量与MOCVD技术制备的材料质量相比也存在一定差距。
现有并未出现在磁控溅射工艺生长AlN缓冲层,也未出现在磁控溅射工艺生长AlN缓冲层基础之上利用大型工业MOCVD工艺生长半导体器件其他功能结构层,以解决半导体器件大规模、批量化、低成本、高质量的生产问题。
发明内容
(一)要解决的技术问题
鉴于上述技术问题,本公开提供了一种半导体器件及其制备方法,制备时间短,成本低廉,可大规模制备,提高了外延材料质量和器件性能,实现了大型工业MOCVD批量化生产。
(二)技术方案
根据本公开的一个方面,提供了一种半导体器件的制备方法,包括以下步骤:在衬底上溅射沉积AlN缓冲层;以及采用MOCVD工艺在所述AlN缓冲层上形成功能层,完成所述半导体器件的制备。
在一些实施例中,所述半导体器件为紫外LED,所述采用MOCVD工艺在所述AlN缓冲层上形成功能层的步骤包括以下子步骤:采用MOCVD工艺在所述AlN缓冲层上形成n型层;采用MOCVD工艺在所述n型层上形成发光层;以及采用MOCVD工艺在所述发光层上形成p型层,完成所述紫外LED的制备。
在一些实施例中,在形成AlN缓冲层的步骤与形成n型层的步骤之间,还包括:选择1000~2300℃的退火温度范围对所述AlN缓冲层进行热退火方式处理。
在一些实施例中,所述AlN缓冲层的厚度为10nm~10μm。
在一些实施例中,所述衬底的材质为蓝宝石、碳化硅、氮化镓、氧化镓、氧化锌、氧化镁、硅、玻璃或金属。
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