[发明专利]一种用于石英晶体谐振器的老化性能测试装置及方法

权利要求书

1.一种用于石英晶体谐振器的老化性能测试装置，其特征在于，包括：

底端开口的壳体；

位于所述壳体底端的输出转接基座；

位于所述壳体内且与所述输出转接基座结合固定的信号处理及调试功能通用底板；以及

位于所述壳体内且位于所述信号处理及调试功能通用底板上方的振荡及加热控温功能适配插板；其中，

所述壳体用于对老化性能测试装置内部组件形成遮蔽，防止外部环境影响；

所述输出转接基座用于将老化性能测试装置与老化系统进行适配安装并形成电气连接与数据信号联通；

所述信号处理及调试功能通用底板用于振荡网络频率信号放大输出，同时对石英晶体谐振器的工作温度和输出频率进行调节；

所述信号处理及调试功能通用底板包括：

与所述输出转接基座结合固定的第一基板；

位于所述第一基板顶面的晶体信号处理及调试电路；以及

结合固定于所述第一基板顶面两端部且对称设置的排针插座；

所述信号处理及调试功能通用底板还包括：均位于所述晶体信号处理及调试电路顶面的可调电阻器和可调电容器；

所述振荡及加热控温功能适配插板用于将石英晶体谐振器接入振荡网络发生谐振产生振荡频率，并对石英晶体谐振器进行加热控温；

所述振荡及加热控温功能适配插板包括：

第二基板；

结合固定于所述第二基板底面两端部且与所述排针插座对应设置的排针；

位于所述第二基板顶面的振荡及加热控温电路；

位于所述振荡及加热控温电路顶面的金属加热块；以及

位于所述金属加热块顶面的晶体谐振器插座。

2.一种将如权利要求1任一项权利要求所述的老化性能测试装置用于石英晶体谐振器的老化性能测试方法，其特征在于，包括如下步骤：

S1、将石英晶体谐振器插接在振荡及加热控温功能适配插板上；

S2、将振荡及加热控温功能适配插板插接在信号处理及调试功能通用底板上，形成全功能电路电气连接；

S3、将插装完成的老化性能测试装置装入老化测试系统中，并加电调试；

S4、进行老化性能测试；

S5、测试完毕，卸载石英晶体谐振器。

3.根据权利要求2所述的用于石英晶体谐振器的老化性能测试方法，其特征在于，所述步骤S1具体包括如下过程：根据需测试石英晶体谐振器的盒型规格、切型及频率所处频段，选择适配的振荡及加热控温功能适配插板，然后将石英晶体谐振器插接在振荡及加热控温功能适配插板上。

4.根据权利要求2所述的用于石英晶体谐振器的老化性能测试方法，其特征在于，所述步骤S2具体包括如下过程：将已安装石英晶体谐振器的振荡及加热功能适配插板，与结合固定于转换基座上的信号处理及调试功能通用底板，相互插接在一起，形成完整的振荡器网络的全电气连接。

5.根据权利要求2所述的用于石英晶体谐振器的老化性能测试方法，其特征在于，所述步骤S3具体包括如下过程：将插装完成的老化性能测试装置放入老化测试系统，通过输出转接基座安装在与老化测试系统软件进行通讯联通的测试单板上；对测试单板上的老化性能测试装置通电，调节可调电阻器从而将控温电路温度调整至晶体谐振器的实际拐点温度，然后调节可调电容器以调整谐振器的频率精确，盖上壳体。

6.根据权利要求2所述的用于石英晶体谐振器的老化性能测试方法，其特征在于，所述步骤S4具体包括如下过程：运行老化测试系统，对石英晶体谐振器进行在控制温度下的频率测试，得出老化测试数据及结果。

7.根据权利要求2所述的用于石英晶体谐振器的老化性能测试方法，其特征在于，所述步骤S5具体包括如下过程：测试完毕后，测试系统内的测试单板停止通电，将老化测试装置从测试单板上取下，打开装置的壳体，将振荡及加热控温功能适配插板从信号处理及调试功能通用底板上插拔分离，最后将晶体谐振器从振荡及加热控温功能适配插板中完好取出。