[发明专利]基于电磁超材料的高精度与大测量范围的微波角位移传感器在审
| 申请号： | 201711226966.7 | 申请日： | 2017-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN108088483A | 公开（公告）日： | 2018-05-29 |
| 发明（设计）人： | 郭俊峰;杨河林;金彦;叶辉;周超;刘玉 | 申请（专利权）人： | 武汉市工程科学技术研究院 |
| 主分类号： | G01D5/48 | 分类号： | G01D5/48 |
| 代理公司： | 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 | 代理人： | 潘杰;李满 |
| 地址： | 430019 湖北省*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 基底 刻蚀 金属环形 互补型 金属环 微带线 开缝 角位移传感器 电磁波信号 金属缝隙 偏心圆形 外圈金属 超材料 金属片 内圈 微波 测量 矩形金属 角设置 接地板 接地层 输出线 输入线 底面 角垫 下层 传输 | ||
1.一种基于电磁超材料的高精度与大测量范围的微波角位移传感器，其特征在于：它包括上层超介质板(1)和下层传输接地板(2)，所述上层超介质板(1)包括圆形基底(1.1)，所述圆形基底(1.1)的底面刻蚀有互补型开缝金属环(1.2)，所述互补型开缝金属环(1.2)包括外圈金属偏环(1.3)、内圈偏心圆形金属片(1.4)和金属缝隙条(1.5)，所述外圈金属偏环(1.3)和内圈偏心圆形金属片(1.4)通过金属缝隙条(1.5)连接，所述下层传输接地板(2)包括矩形基底(2.1)，所述矩形基底(2.1)的顶部刻蚀有金属环形微带线(2.2)，所述在矩形基底(2.1)中金属环形微带线(2.2)的左右两端刻蚀有电磁波信号输入线(2.3)和电磁波信号输出线(2.4)，所述矩形基底(2.1)的整个底部刻蚀有矩形金属接地层(2.5)，所述上层超介质板(1)底面与矩形基底(2.1)的顶面之间设置有角垫(3)，使金属环形微带线(2.2)与互补型开缝金属环(1.2)之间形成空气间隙。
2.根据权利要求1所述的基于电磁超材料的高精度与大测量范围的微波角位移传感器，其特征在于：所述上层超介质板(1)底面与矩形基底(2.1)的顶面之间的四个角设置厚度为0.20～0.30mm的角垫(3)。
3.根据权利要求1所述的基于电磁超材料的高精度与大测量范围的微波角位移传感器，其特征在于：所述金属缝隙条(1.5)的宽度为0.9～1.1mm。
4.根据权利要求1所述的基于电磁超材料的高精度与大测量范围的微波角位移传感器，其特征在于：所述上层超介质板(1)能相对下层传输接地板(2)旋转。
5.根据权利要求1所述的基于电磁超材料的高精度与大测量范围的微波角位移传感器，其特征在于：所述外圈金属偏环(1.3)的外圈半径与金属环形微带线(2.2)的外圈半径相等。
6.根据权利要求5所述的基于电磁超材料的高精度与大测量范围的微波角位移传感器，其特征在于：所述外圈金属偏环(1.3)的外圈半径和金属环形微带线(2.2)的外圈半径均为12mm。
7.根据权利要求1所述的基于电磁超材料的高精度与大测量范围的微波角位移传感器，其特征在于：所述内圈偏心圆形金属片(1.4)的圆心向右偏离圆形基底(1.1)的圆心2.1mm，所述内圈偏心圆形金属片(1.4)的半径为6mm。
8.根据权利要求1所述的基于电磁超材料的高精度与大测量范围的微波角位移传感器，其特征在于：所述外圈金属偏环(1.3)的内环圆心向左偏离外环圆心，所述外圈金属偏环(1.3)的内环圆心偏离外环圆心的偏离量为1.2mm。
9.根据权利要求1所述的基于电磁超材料的高精度与大测量范围的微波角位移传感器，其特征在于：所述电磁波信号输入线(2.3)和电磁波信号输出线(2.4)的宽度相等均为3.68mm。
10.根据权利要求1所述的基于电磁超材料的高精度与大测量范围的微波角位移传感器，其特征在于：所述金属环形微带线(2.2)的外圈半径为12mm，金属环形微带线(2.2)的内圈半径为10mm。
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