[发明专利]基于间接测量的多涂层厚度测量方法在审
申请号: | 201711233327.3 | 申请日: | 2017-11-30 |
公开(公告)号: | CN107796318A | 公开(公告)日: | 2018-03-13 |
发明(设计)人: | 洪鹏;陶凌峰;李茂盛;杨伟锋;沈爱华;高中辉;周轩 | 申请(专利权)人: | 江苏金陵智造研究院有限公司 |
主分类号: | G01B11/06 | 分类号: | G01B11/06 |
代理公司: | 南京理工大学专利中心32203 | 代理人: | 陈鹏 |
地址: | 210006 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 间接 测量 涂层 厚度 测量方法 | ||
1.一种基于间接测量的多涂层厚度测量方法,其特征在于,该测量方法采用一套组合式的测量机构,测量机构包括测量头、能够带动测量头运动的多轴运动机构以及后台数据处理系统;多轴运动机构各关节设置有反馈装置,用于实时获取各关节的位置和末端测量头发射点的位置;该方法首先在产品喷涂前,利用不被喷涂到的产品或工装特征建立基准坐标系并对产品三维模型进行重构,产品喷涂后,利用相同特征再次建立基准坐标系并对喷后三维模型进行重构,将两次基准坐标系进行重合,喷涂前后垂直于产品表面的距离差值即为涂层的厚度。
2.根据权利要求1所述的基于间接测量的多涂层厚度测量方法,其特征在于,所述测量方法具体包括以下步骤:
步骤1,喷涂前基准特征扫描,将产品在喷涂前放置到测量机构测量范围内,利用多轴运动机构带动测量头扫描出三个以上的基准特征;
步骤2,喷涂前基准坐标系建立,利用扫描出的基准特征拟合出特征点,以其中一个特征点为原点,以原点和其中另一个特征点构成的直线为X轴,以三个特征点建立的平面为XY平面构建基准坐标系Frame1;
步骤3,喷涂前产品三维模型重构,在基准坐标系Frame1下扫描出被测产品的三维模型;保证基准特征在喷涂过程中不被喷涂到;
步骤4,喷涂后基准特征扫描,将产品在喷涂后送到该测量机构测量范围内,利用多轴运动机构带动测量头扫描出三个以上的基准特征;
步骤5,喷涂后基准坐标系建立,利用扫描出的基准特征拟合出特征点,以其中一个特征点为原点,以原点和其中另一个特征点构成的直线为X轴,以三个特征点建立的平面为XY平面构建基准坐标系Frame2;
步骤6,喷涂后产品三维模型重构,在基准坐标系Frame2下扫描出被测产品的三维模型;
步骤7,将Frame1和Frame2重合形成FrameR,求解出喷涂前后的三维模型在FrameR下垂直于喷涂表面的距离差值,该距离差值即为喷涂的厚度值。
3.根据权利要求2所述的基于间接测量的多涂层厚度测量方法,其特征在于,所述基准特征外形为球型或者立方体。
4.根据权利要求1或2所述的基于间接测量的多涂层厚度测量方法,其特征在于,所述测量头为激光测量头或者蓝光测量头。
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