[发明专利]玻璃光谱内透过率测量方法

说明书

本发明属于玻璃测试技术领域，具体公开了一种玻璃光谱内透过率测量方法，旨在解决如何降低测量误差使测量值更接近真实值的问题。该玻璃光谱内透过率测量方法，包括取样步骤、分光步骤和测量步骤，测量步骤：基线测量时通过在测试光路和参考光路中分别放置一块厚度相等的薄样品进行零点和100％点校正，光谱透过率测量时通过厚样品替换测试光路中的薄样品测量。通过该方法进行测量，能够使得参考光路作基线时及测量时投射在探测器位置上的斑点大小及位置不发生改变，而测试光路中的薄样品被厚样品替换后测试光路投射在探测器上的斑点大小及位置的变化极小，基本消除了样品架放置位置不理想引起的误差，测得的玻璃光谱内透过率更接近真实值。

技术领域

本发明属于玻璃测试技术领域，具体涉及一种玻璃光谱内透过率测量方法。

背景技术

玻璃光谱内透过率是剔除掉样品界面反射损失从而反映玻璃内部真实透过情况的指标。目前，国际通用的测量方法为双光路内透透射比光谱测试法，其包括取样步骤、分光步骤和测量步骤；

取样步骤：通过在同一块玻璃上切取厚度不同的两块样品，并在同一状态将两块样品加工成矩形，样品的长度和宽度视仪器样品架大小而定，厚度分别为5±0.05mm和15±0.05mm；两块样品的通光面应同盘研磨和抛光，表面粗糙度Ra＝0.012，平面度N＝3，ΔN＝0.5，平行度小于2′，其余各面细磨；

分光步骤：采用双光路分光光度计将同一光源分为双光路，即测试光路和参考光路，这两路光束因来自同一光源所以光束的性质的状态是一样的，即同时处于汇聚的或发散的两种状态，当然这两种状态并不是很明显，仪器商做得好的这两种状态是比较小的，但是没有对所有光谱谱线绝对平行的；

测量步骤：首先，分别对测试光路及参考光路进行基线空测及零点和100％点校正；然后，通过样品架把5mm和15mm厚的样品分别放入参考光路和测试光路，同时在双光路上进行测试得到光谱透过率，再消除表面反射损失即可根据厚样品减去薄样品的厚度差计算得到玻璃的光谱内透过率。

采用双光路能够消除由于在测试当中可能发生的微小能量的变化从而提高测试透过率的精度。但是，由于样品架处于的位置不可能绝对理想，样品放置在样品架上后样品平面不是绝对的与探测器平行，因此打在探测器上光斑位置及大小与基线空测时打在探测器上光斑位置及大小不一致，即在参考光路上，基线空测时在探测器上投射的光斑位置与实际测量时在探测器上投射的光斑位置是不一样的，同时在测量光路上，由于放置的样品更厚一些，基线空测时在探测器上投射的光斑位置与实际测量时在探测器上投射的光斑位置也是不一样的，这样就会带来较大的测量误差。

发明内容

本发明提供了一种玻璃光谱内透过率测量方法，旨在解决如何降低测量误差使测量值更接近真实值的问题。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：玻璃光谱内透过率测量方法，包括取样步骤、分光步骤和测量步骤；

取样步骤：在同一块玻璃上切取薄样品和厚样品，并在同一状态下对薄样品和厚样品进行处理；其中，薄样品的数量为两块或两块以上，且各块薄样品的厚度相等；厚样品至少为一块，且厚样品的厚度大于薄样品的厚度；

分光步骤：利用分光仪器将同一光源分光为测试光路和参考光路，并在测试光路和参考光路的末端设置探测器；

测量步骤：首先进行基线测量，利用样品架在测试光路和参考光路中分别放置一块薄样品后，对测试光路和参考光路进行零点和100％点校正；然后，通过厚样品将处于测试光路中的薄样品替换掉，同时在测试光路和参考光路上进行光谱透过率测量；最后，消除玻璃表面反射并根据厚样品与薄样品的厚度差计算得到玻璃的光谱内透过率。

进一步的是，薄样品的厚度为5±0.05mm，厚样品的厚度为15±0.05mm。

进一步的是，取样步骤中，对各块薄样品和厚样品的通光面进行同盘研磨和抛光，对各块薄样品和厚样品除通光面外的其余各面进行细磨。