[发明专利]一种坏块识别方法及装置有效
| 申请号： | 201711241290.9 | 申请日： | 2017-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN107908500B | 公开（公告）日： | 2021-02-26 |
| 发明（设计）人： | 姬瑞勤;辛海宁 | 申请（专利权）人： | 新华三技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/10 | 分类号： | G06F11/10;G06F12/02 |
| 代理公司： | 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415 | 代理人： | 林祥 |
| 地址： | 310052 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 识别 方法 装置 | ||
本发明提供一种坏块识别方法及装置，该方法包括：根据预设坏块表bbt描述符规则从所述Nand Flash的数据区中查找bbt描述符；若查找到bbt描述符，则对所述bbt描述符进行错误检查和纠正ecc校验；基于校验后的bbt描述符执行查找；当查找到所述校验后的bbt描述符对应的bbt表时，根据查找到的bbt表确定所述Nand Flash中的坏块。应用本发明实施例可以提高坏块识别的可靠性。
技术领域
本发明涉及网络通信技术领域，尤其涉及一种坏块识别方法及装置。
背景技术
Nand（与非）Flash（闪存）是Flash存储器的一种，其内部采用非线性宏单元模式，为固态大容量内存的实现提供了廉价有效的解决方案。Nand Flash存储器具有容量较大，改写速度快等优点，适用于大量数据的存储。
Nand Flash在出厂时可能会存在坏块，同时在使用过程中也会产生坏块，对于文件存放在Nand Flash上的设计，必须考虑Nand Flash坏块对文件完整性的影响。
发明内容
本发明提供一种坏块识别方法及装置，以提高坏块识别的可靠性。
根据本发明的第一方面，提供一种坏块识别方法，应用于Nand Flash为存储介质的通信设备，该方法包括：
根据预设坏块表bbt描述符规则从所述Nand Flash的数据区中查找bbt描述符；
若查找到bbt描述符，则对所述bbt描述符进行错误检查和纠正ecc校验；
基于校验后的bbt描述符执行查找；
当查找到所述校验后的bbt描述符对应的bbt表时，根据查找到的bbt表确定所述Nand Flash中的坏块。
根据本发明的第二方面，提供一种坏块识别装置，应用于以Nand Flash为存储介质的通信设备，该装置包括：
查找单元，用于根据预设坏块表bbt描述符规则从所述Nand Flash的数据区中查找bbt描述符；
校验单元，用于若所述查找单元查找到bbt描述符，则对所述bbt描述符进行错误检查和纠正ecc校验；
所述查找单元，还用于基于校验后的bbt描述符执行查找；
确定单元，用于当所述查找单元查找到所述校验后的bbt描述符对应的bbt表时，根据查找到的bbt表确定所述Nand Flash中的坏块。
应用本发明公开的技术方案，通过根据预设坏块表bbt描述符规则从Nand Flash的数据区中查找bbt描述符；若查找到bbt描述符，则对bbt描述符进行错误检查和纠正ecc校验，并基于校验后的bbt描述符执行查找，当查找到校验后的bbt描述符对应的bbt表时，根据查找到的bbt表确定Nand Flash中的坏块，提高了坏块识别的可靠性。
附图说明
图1是本发明实施例提供的一种坏块识别方法的流程示意图；
图2是本发明实施例提供的一种坏块识别方法的流程示意图；
图3是本发明实施例提供的一种根据查找到的主bbt表或/和备bbt表创建内存bbt表的流程示意图；
图4是本发明实施例提供的一种坏块识别装置的结构示意图；
图5是本发明实施例提供的另一种坏块识别装置的结构示意图；
图6是本发明实施例提供的另一种坏块识别装置的结构示意图。
具体实施方式
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