[发明专利]共焦显微镜模式像差矫正方法有效

专利信息
申请号: 201711242335.4 申请日: 2017-11-30
公开(公告)号: CN108088653B 公开(公告)日: 2020-11-20
发明(设计)人: 刘辰光;刘俭;赵唯松;陈刚;谭久彬 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学;北京锐驰恒业仪器科技有限公司
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00;G01N21/01
代理公司: 北京慕达星云知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11465 代理人: 李冉
地址: 150001 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 显微镜 模式 矫正 方法
【权利要求书】:

1.共焦显微镜模式像差矫正方法,其所依托的共焦系统,其组成包括激光器(1)、双面45°反光镜(2)、分束镜(3)、半波片(4)、空间光调制器(5)、反射镜(6)、光阑(7)、偏振分束镜(8)、XY扫描振镜(9)、扫描透镜(10)、管镜(11)、物镜(12)、1/4波片(13)、收集透镜(15)、光纤小孔(16)和光电倍增管(17),激光器(1)发出的激光经双面45°反光镜(2)的一侧反光镜面反射后途经分束镜(3)到达半波片(4),经半波片(4)调制后射入至空间光调制器(5),再经空间光调制器(5)调制后射回至分束镜(3),再经分束镜(3)反射至反射镜(6),然后经光阑(7)滤除高阶衍射杂光后射到双面45°反光镜(2)的另一侧反光镜面,经双面45°反光镜(2)再次反射后经过偏振分束镜(8)射至XY扫描振镜(9)上,然后经XY扫描振镜(9)反射至扫描透镜(10),经过管镜(11)后经过1/4波片(12)偏振面翻转90°后被物镜(13)聚焦至的打在待测样品(14)上;聚焦后的光斑再从待测样品(14)上反射回物镜(13),经过1/4波片(12),偏振面再次翻转90°后依次经过、管镜(11)、扫描透镜(10)和XY扫描振镜(9),射在偏振分束镜(8)上,再经偏振分束镜(8)反射至收集透镜(15)并聚焦到光纤小孔(16),最后被光电倍增管(17)收集;共焦显微镜模式像差矫正方法,其特征是,包括以下步骤:

步骤a,建立Zernike多项式;将像差分解为Zernike多项式4-11阶组合;Zernike多项式4-11阶多项式形式如下:

其中i代表Zernike像差阶数,作为判定循环是否继续的条件,r为极坐标系径向坐标,θ为极坐标系角向坐标;

步骤b,加载第i阶Zernike项偏置像差,每阶系数分别为初始值i=4,s=0,其中b为Zenike偏置系数,共焦显微系统最佳偏置系数为b=0.58rad,s为循环次数判定指数;

步骤c,计算五幅图像的灰度方差函数;

步骤d,s=0:质心法计算像差系数ai,s=1:线性计算像差系数ai’;

步骤e,使i=i+1,若i12,返回步骤b,若i12则进行步骤f;

步骤f,若s=0,则使i=4,s=1返回步骤b;若s=1则进行步骤g;为减少各阶Zernike像差间的串扰,在第一次循环结束后,即i=12时,得到共焦系统的4-11阶像差系数,比较得到的像差系数,其中系数a0.7rad项像差模式清零,系数a≧0.7rad项像差模式预先矫正,即在空间光调制器中加入清零后的系数a像差的bmp图像为初始值,以此基础加重新进行4-11阶偏置,进入第二次循环:i=4,s=1;

步骤g,计算最佳相差系数,进行共焦像差矫正;

所述步骤d中,s=0时,利用5幅图像的灰度方差函数值,做质心法形式如下:

M1-5和x1-5分别对应第一幅至第五幅图像的灰度方差函数值和相应偏执系数,ai为系统像差系数;对于s=1时,已知若共焦显微镜不含相差,则加入正负相同幅值偏置,其图像灰度方差函数值之差为零,且其差的值与共焦显微镜中所含像差系数成线性比例,利用像差偏置x=±b所对应的两幅图像的灰度方差函数值之差计算共焦显微镜像差系数ai’。

2.根据权利要求1所述的共焦显微镜模式像差矫正方法,其特征在于:所述步骤a中的Zernike多项式组合为:i=4-11,即从4起始,11终结,其中Ф为共焦显微波像差,ai为第i阶像差系数,为累加符号。

3.根据权利要求2所述的共焦显微镜模式像差矫正方法,其特征在于:所述步骤b中将Zernike多项式i阶系数c为像差分别转换为bmp图像加载至附加于共焦显微系统的空间光调制器,s=0时,空间光调制器初始值为系数0;s=1时,空间光调制器初始值为清零后的系数a;在空间光调制器5次加载时分别利用共焦系统对样品成像,得到5幅图像作为计算图像灰度方差的数据基础。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于哈尔滨工业大学;北京锐驰恒业仪器科技有限公司,未经哈尔滨工业大学;北京锐驰恒业仪器科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201711242335.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top