[发明专利]一种测定TFT-LCD液晶基板玻璃配合料均匀度的方法在审
申请号: | 201711242467.7 | 申请日: | 2017-11-30 |
公开(公告)号: | CN108181244A | 公开(公告)日: | 2018-06-19 |
发明(设计)人: | 鱼卫芳;蔡进松;孙绪;侯宏荣 | 申请(专利权)人: | 彩虹(合肥)液晶玻璃有限公司 |
主分类号: | G01N21/31 | 分类号: | G01N21/31 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 徐文权 |
地址: | 230011 安徽省*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 液晶基板玻璃配合料 基板玻璃 均匀度 配合料 稀释 原子吸收光谱仪 测试 溶液溶解 准确度 稀盐酸 混匀 均一 溶解 玻璃 保证 | ||
1.一种测定TFT-LCD液晶基板玻璃配合料均匀度的方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1)、从同一液晶基板玻璃配合料中抽取相同质量的液晶基板玻璃配合料样品N份;
步骤2)、按重量百分比计算,对每份液晶基板玻璃配合料样品加入与液晶基板玻璃配合料样品质量相同的稀盐酸溶液;
步骤3)、对加入稀盐酸溶液的液晶基板玻璃配合料样品进行加热溶解,自然冷却后过滤;
步骤4)、分别利用过滤后的N份液晶基板玻璃配合料样品在原子吸收光谱仪上测试相同浓度的Mg溶液的吸光度an;
步骤5)、则液晶基板玻璃配合料的均匀度B为:
式中,amax为N份液晶基板玻璃配合料样品中在原子吸收光谱仪上测试相同浓度的Mg溶液的最大吸光度值;amin为N份液晶基板玻璃配合料样品中在原子吸收光谱仪上测试相同浓度的Mg溶液的最小吸光度值;ap为N份液晶基板玻璃配合料样品中在原子吸收光谱仪上测试相同浓度的Mg溶液的最大吸光度值。
2.根据权利要求1所述的一种测定TFT-LCD液晶基板玻璃配合料均匀度的方法,其特征在于,步骤1)中,在同一液晶基板玻璃配合料料罐中,取N份不同位置的液晶基板玻璃配合料样品,去除每份样品中的固体玻璃。
3.根据权利要求1所述的一种测定TFT-LCD液晶基板玻璃配合料均匀度的方法,其特征在于,步骤2)中,对每份液晶基板玻璃配合料样品进行四分法缩分,然后选取一份在每份液晶基板玻璃配合料样品加入与液晶基板玻璃配合料样品质量相同的稀盐酸溶液,进行加热溶解,然后进行冷却稀释。
4.根据权利要求1所述的一种测定TFT-LCD液晶基板玻璃配合料均匀度的方法,其特征在于,步骤4)中,Mg溶液浓度为1-8ppm。
5.根据权利要求1所述的一种测定TFT-LCD液晶基板玻璃配合料均匀度的方法,其特征在于,步骤4)中,原子吸收光谱仪各参数为:Mg波长为285.2nm;灯电流为7mA;燃气为乙炔空气混合燃料;燃烧器高度为7mm,流量为16.8L/min。
6.根据权利要求1所述的一种测定TFT-LCD液晶基板玻璃配合料均匀度的方法,其特征在于,步骤2)中的稀盐酸浓度小于5mol/L。
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