[发明专利]一种扩束准直光检测方法

说明书

本发明公开了一种扩束准直光检测方法，涉及图像处理技术领域。包括：通过剪切干涉方法获取干涉图像，对所述干涉条纹进行空间滤波得到滤波干涉条纹；将所述滤波干涉条纹通过傅里叶变化获取所述滤波干涉条纹的频谱图；通过设置的滤波窗口对所述频谱图进行频域滤波处理，得到滤波频谱图；对所述滤波频谱图进行反傅里叶变化，得到所述干涉图像的包裹相位，采用最小二乘法对所述包裹相位进行解包得到所述干涉图像的相位解包图；所述相位解包图通过整面消倾斜得到通过所述剪切干涉得到的所述干涉图像的真实相位；对所述真实相位采用Zernike波前重构处理，得到所述涉图像的波面信息。

技术领域

本发明涉及图像处理技术领域，更具体的涉及一种扩束准直光检测方法。

背景技术

激光由于具有光能量集中、方向性和单色性好等特点，被广泛用作光学干涉计量的光源。但是，由于激光光束为高斯分布，其干涉将产生一个附加位相差，因此，在光学干涉测量中，经常需要对激光器发出的激光进行扩束准直、压缩远场发散角的方法来减少因附加位相差引起的测量误差。

激光光束的质量这一技术指标在激光应用方面非常重要，它的应用是非常广泛的。可是评价激光光束质量的概念又不是很明确，到目前为止相关人员并没有明确给出评价激光光束质量的定义。例如从事激光雷达的人员来说，方向好的光束即为质量好的光束；但对于从事激光打孔、激光切割的人员来说，光束越接近高斯光束则光束的质量越好；所以根据不同的用途，所以对光束的质量评判原则也是不同的。所以在评价光束质量的不同阶段不同领域有不同的办法，比如：聚焦光斑尺寸、光束准直度、环围能量比、斯特列尔比、波前重构测量波面的波像差和波前偏差的理论来评价光束的质量。

发明内容

本发明实施例提供一种扩束准直光检测方法，提供一种评价光束质量的方法，且该方法具有精度高，测试周期短的特点。

本发明实施例提供一种扩束准直光检测方法，包括：

通过剪切干涉方法获取干涉图像，对所述干涉条纹进行空间滤波得到滤波干涉条纹；

将所述滤波干涉条纹通过傅里叶变化获取所述滤波干涉条纹的频谱图；

通过设置的滤波窗口对所述频谱图进行频域滤波处理，得到滤波频谱图；

对所述滤波频谱图进行反傅里叶变化，得到所述干涉图像的包裹相位，采用最小二乘法对所述包裹相位进行解包得到所述干涉图像的相位解包图；

所述相位解包图通过整面消倾斜得到通过所述剪切干涉得到的所述干涉图像的真实相位；

对所述真实相位采用Zernike波前重构处理，得到所述涉图像的波面信息。

优选地，所述空间滤波包括均值滤波和中指滤波。

优选地，所述剪切干涉为环路径向剪切干涉；

所述通过剪切干涉方法获取干涉图像之前，还包括：

被测光束通过分光镜形成两束光，第一光束依此通过第二透镜，第二反射镜，第一反射镜和第一透镜后形成扩大波面；第二光束依此通过所述第一透镜，所述第二透镜形成缩小波面；

所述扩大波面和所述缩小波面产生干涉，通过接收仪器获取到所述干涉图像。

优选地，所述滤波窗口包括矩形窗口，哈明窗口，汉宁窗口。