[发明专利]一种黑体绝对发射率的测量装置及方法

权利要求书

1.一种黑体绝对发射率的测量装置，其特征在于，包括：

量子级联激光器、红外透镜、积分球和变口径光阑；

所述积分球上设置有第一窗孔和第二窗孔；

所述量子级联激光器、所述红外透镜、所述第一窗孔、所述第二窗孔和所述变口径光阑依次排列，位于同一轴线上，并且所述轴线经过所述积分球的球心；

所述黑体可拆卸地安装在所述变口径光阑上；

所述积分球还包括：

金挡光板和标准金反射板；

所述金挡光板可拆卸地安装到所述第一窗孔上；

所述标准金反射板可拆卸地安装到所述变口径光阑上。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述积分球的内壁先经过喷砂处理，再进行镀金。

3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述积分球上还设置有第三窗孔，所述第三窗孔上安装有红外探测器，用于测量所述积分球中的红外信号强度值。

4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述变口径光阑安装在所述第二窗孔上；

所述变口径光阑的第一面先经过喷砂处理，再进行镀金，所述第一面靠近所述第二窗孔；

所述变口径光阑的第二面设置有绝热层。

5.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述变口径光阑上设置有温度控制器，用于控制所述变口径光阑的温度。

6.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述红外透镜可在所述量子级联激光器和所述积分球之间沿所述轴线轴向移动。

7.根据权利要求1-6任一项所述的装置，其特征在于，所述红外透镜由硅或者锗材料制成，并且表面镀有增透膜。

8.一种黑体绝对发射率的测量方法，其特征在于，包括：

调节变口径光阑的开口直径，保持所述变口径光阑的开口直径和所述黑体的开口直径相同；

调节红外透镜在量子级联激光器和积分球之间的位置；

将所述黑体安装到所述变口径光阑上；

将金挡光板安装到所述积分球的第一窗孔上，记录红外探测器测得的第一红外信号强度S1；

将所述金挡光板从所述第一窗孔上拆除，记录所述红外探测器测得的第二红外信号强度S2；

将所述黑体从所述变口径光阑上拆除，并将标准金反射板安装到所述变口径光阑上，记录所述红外探测器测得的第三红外信号强度S3；

根据所述第一红外信号强度S1、所述第二红外信号强度S2、所述第三红外信号强度S3和所述标准金反射板的反射比P，计算出所述黑体的绝对发射率ε。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一红外信号强度S1、所述第二红外信号强度S2、所述第三红外信号强度S3和所述标准金反射板的反射比P，计算出所述黑体的绝对发射率ε具体为：

其中，ε为所述黑体的绝对发射率，S1为第一红外信号强度、S2为第二红外信号强度、S3为第三红外信号强度，P为标准金反射板的反射比。