[发明专利]电子元器件的检测方法及系统

说明书

技术领域

本发明涉及测试技术领域，特别涉及一种电子元器件的检测方法及系统。

背景技术

近年来，在集成电路(Integrated Circuit，IC)器件应用领域，使用ASA曲线测试技术来检测IC器件日益广泛；ASA曲线的测试依据为，如果不改变测试条件，器件的管脚曲线在误差允许范围内是唯一不变的，也就是说，每次测试到的曲线在误差允许范围内是基本相同的；如果ASA曲线出现了较大变化，则通常说明该ASA曲线对应的管脚上出现故障。但是，在测试条件完全相同的情况下，连续测试一个好器件的同一个管脚，有可能测试得到不稳定曲线；也就是说，测到的曲线之间会有很大差别，显示出来后曲线在不断变动，不能稳定下来。如此一来，对于具有不稳定管脚曲线的器件，采用ASA曲线测试则容易造成误判，比如把好器件测成了坏器件。因此，在利用ASA曲线测试时，如何消除不稳定曲线成为目前亟待解决的问题之一。

发明内容

本发明提供一种电子元器件的检测方法及系统，旨在消除利用ASA曲线检测IC器件时所出现的不稳定曲线。

本发明提供一种电子元器件的检测方法，所述检测方法包括：

针对待检测的集成电路器件，利用ASA曲线测试法，对所述集成电路器件进行检测，得到所述集成电路器件各管脚分别对应的ASA曲线；

识别得到的所有ASA曲线中是否存在不稳定曲线；

若识别出存在不稳定的ASA曲线，则从所述集成电路器件的管脚中选取对应的测试参考脚，并根据选取的所述测试参考脚，采用与所述测试参考脚相匹配的消除不稳定曲线的测试方法，再次对所述集成电路器件进行检测，得到不稳定曲线消除后的ASA曲线；

根据得到的不稳定曲线消除后的ASA曲线，判断检测的所述集成电路器件是否发生故障。

优选地，所述从所述集成电路器件的管脚中选取对应的测试参考脚，包括：

选取所述集成电路器件的接地管脚作为对应的测试参考脚；

或者，依次选取所述集成电路器件的所有管脚分别轮流作为对应的测试参考脚，用于测试所述集成电路器件除选取的所述测试参考脚以外的其他所有管脚。

优选地，所述识别得到的所有ASA曲线中是否存在不稳定曲线，包括：

在不改变测试条件的情况下，针对所述集成电路器件进行预设次数的检测，判断检测得到的所有ASA曲线在预设误差范围内是否相同；

若得到的所有ASA曲线在预设误差范围内相同，则识别出得到的所述ASA曲线为稳定曲线；

若得到的其中一条ASA曲线在预设误差范围内与其他ASA曲线不相同，则识别出得到的在预设误差范围内不相同的所述ASA曲线为不稳定曲线。

优选地，所述根据选取的所述测试参考脚，采用与所述测试参考脚相匹配的消除不稳定曲线的测试方法，包括：

若选取的所述测试参考脚为：所述集成电路器件的接地管脚，则采用的消除不稳定曲线的测试方法为：将所述集成电路器件的电源管脚与所述测试参考脚进行短接；

若选取的所述测试参考脚为：依次选取所述集成电路器件的所有管脚分别轮流作为对应的测试参考脚，则采用的消除不稳定曲线的测试方法为：

当选取所述集成电路器件的接地管脚作为测试参考脚时，将所述集成电路器件的电源管脚与所述测试参考脚进行短接；或者，将所述集成电路器件的电源管脚和其它某个管脚同时与所述测试参考脚进行短接；

当选取所述集成电路器件除接地管脚之外的其他管脚作为测试参考脚时，将所述集成电路器件的接地管脚或者电源管脚分别与所述测试参考脚进行短接；或者，将所述集成电路器件的接地管脚和电源管脚同时与所述测试参考脚进行短接；或者，将所述集成电路器件的接地管脚和电源管脚和其它某个管脚同时与所述测试参考脚进行短接。

优选地，所述根据得到的不稳定曲线消除后的ASA曲线，判断检测的所述集成电路器件是否发生故障，包括：

将不稳定曲线消除后的ASA曲线与正常的参考ASA曲线进行比对，判断二者在预设误差范围内是否一致；

若二者在预设误差范围内一致，则判断出所检测的集成电路器件没有发生故障；

若二者在预设误差范围内不一致，则判断出所检测的集成电路器件发生故障。

对应于以上所提供的一种电子元器件的检测方法，本发明还提供了一种电子元器件的检测系统，所述电子元器件的检测系统可以执行所述电子元器件的检测方法；所述检测系统包括：