[发明专利]一种JF片式熔断器的外观包装印刷方法在审

专利信息
申请号: 201711253388.6 申请日: 2017-12-02
公开(公告)号: CN109872925A 公开(公告)日: 2019-06-11
发明(设计)人: 彭丹妮;韩玉成;李厚忠;杨成;陈庆红 申请(专利权)人: 中国振华集团云科电子有限公司
主分类号: H01H69/02 分类号: H01H69/02
代理公司: 昆明合众智信知识产权事务所 53113 代理人: 张玺
地址: 550000 贵州省*** 国省代码: 贵州;52
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摘要:
搜索关键词: 片式熔断器 包装膜 丝网印刷机 外观包装 真空脱泡 印刷 浆料 高温烧成 浆料印刷 丝网印刷 图形表面 有效解决 产品膜 小孔洞 烘干 合格率 重复 保证
【说明书】:

发明公开了一种JF片式熔断器及JF片式熔断器的外观包装印刷方法,包括以下步骤:(1)将包装浆料进行真空脱泡;(2)通过丝网印刷机将包装浆料印刷于JF片式熔断器表面,并干燥,重复多次丝网印刷;(3)直至干燥后的包装膜厚度达到预定的包装膜厚度的三分之二时,将包装浆料再次进行真空脱泡,静置之后,通过丝网印刷机将剩余三分之一的包装膜层印刷,烘干之后,在600℃下进行高温烧成。本发明既保证产品膜厚在工艺范围内,又可以有效解决图形表面小孔洞及气泡坑等外观不合格问题,大大提高了产品的合格率。

技术领域

本发明属于电子器件生产技术领域,具体涉及一种JF片式熔断器及JF片式熔断器的外观包装印刷方法。

背景技术

JF片式熔断器采用Al2O3陶瓷基板,JF片式熔断器生产工艺流程如下:

丝网制作→背电极印刷→烧成→绝缘层印刷→烧成→熔丝印刷(关键工序) →烧成→表电极印刷→烧成→封前外观检查→包封、标识印刷→烧成→一次裂片、涂银→烧成→二次裂片→端面处理→外观检查→筛选→质量一致性检查→包装、入库。

其中JF片式熔断器进行包封印刷时,现有技术中通常采用的是多次印刷烘干的方法,使包封的干燥膜厚达到工艺要求后,最后再进行高温烧结。采用上述方法烧结后的JF片式熔断器产品外观存在许多孔洞,导致产品电镀后产生金属点,导致产品报废,整体合格率较低,合格率仅70%左右。

发明内容

为了解决上述问题,本发明提供了一种JF片式熔断器的外观包装印刷方法,改善JF片式熔断器产品外观,提高产品合格率。

本发明的技术方案为:一种JF片式熔断器的外观包装印刷方法,包括以下步骤:

(1)将包装浆料进行真空脱泡;

(2)通过丝网印刷机将包装浆料印刷于JF片式熔断器表面,并干燥,重复多次丝网印刷;

(3)直至干燥后的包装膜厚度达到预定的包装膜厚度的三分之二时,将包装浆料再次进行真空脱泡,静置之后,通过丝网印刷机将剩余三分之一的包装膜层印刷,烘干之后,在600℃下进行高温烧成。

作为优选,所述包装浆料为I-9760原浆。

作为优选,所述JF片式熔断器包装印刷前的环境温度为22~24℃,湿度≤80%。

作为优选,所述丝网印刷机的丝网目数为325目,丝网张力大于24N。

作为优选,所述步骤(3)中将包装浆料进行再次真空脱泡之后,静置5min。

本发明还提供了一种如上述的JF片式熔断器的外观包装方法制备得到的JF 片式熔断器。

与现有技术相比,本发明的有益效果体现在:

(1)本发明先将包封浆料进行真空脱泡,以减少浆料本身气泡含量,当包装膜厚度烘印到预定包装膜厚度要求的三分之二时,进行一次以脱泡为目的的高温烧结,使气泡在包封膜层较薄的情况下完全逃逸后,再进行剩下的三分之一印刷,最后再进行一次高温烧成。本发明既保证产品膜厚在工艺范围内,又可以有效解决图形表面小孔洞及气泡坑等外观不合格问题,大大提高了产品的合格率。

(2)经由本发明改善后的JF片式熔断器包封外观合格率提高到90%以上,再无孔洞、气泡坑等不合格现象。电镀后无不良现象,满足了贯标线合格率的目标要求。大幅提高产品合格率的同时减少后工序产品筛选外观的时间,节约了人工成本,提高劳动效率,消除产品质量隐患。

附图说明

图1为采用现有技术包装之后的JF片式熔断器的外观图。

图2为采用本发明之后的JF片式熔断器的外观图。

具体实施方式

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