[发明专利]一种智能电视性能的评估方法和装置有效
申请号: | 201711257322.4 | 申请日: | 2017-12-04 |
公开(公告)号: | CN108040250B | 公开(公告)日: | 2020-11-06 |
发明(设计)人: | 张素兵;刘华益;徐楠;曹新凤;董桂官;韩少晖;阮向远;周阳翔 | 申请(专利权)人: | 中国电子技术标准化研究院;深圳赛西信息技术有限公司;北京赛西科技发展有限责任公司 |
主分类号: | H04N17/00 | 分类号: | H04N17/00;H04N17/04 |
代理公司: | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人: | 许志勇 |
地址: | 100007 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 智能 电视 性能 评估 方法 装置 | ||
1.一种智能电视性能的评估方法,其特征在于,包括:
获取对智能电视进行测试时采集的各个测试指标的指标值,其中,所述测试指标包括多个客观测试指标和多个主观测试指标;所述主观测试指标,包括下述至少两种:开机时间体验;语音体验;体感体验;生物特征识别体验;所述主观测试指标的指标值是由用户根据对各个主观测试指标的主观体验进行主观打分的分值;
根据各个客观测试指标的指标值以及各个主观测试指标的指标值,确定所述智能电视的性能评估分值,其中,所述性能评估分值表示所述智能电视的综合性能;
各个所述客观测试指标的指标值,通过如下公式获取的到:
,其中,
为第个客观测试指标的指标值;为第个客观测试指标的基准分数;为第个客观测试指标的实测值;为第个客观测试指标的基准值;为第个客观测试指标对应的权重;N为各个客观测试指标的放大系数;
当第个客观测试指标满足第一预设条件时,上述符号为加号,其中,所述第一预设条件为客观测试指标满足:一个客观测试指标的指标值越大,反映智能电视的性能越好的客观测试指标;
当第个客观测试指标满足第二预设条件时,上述符号为减号,其中,所述第二预设条件为客观测试指标满足:一个客观测试指标的指标值越大,反映智能电视的性能越差的客观测试指标。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,第个客观测试指标的实测值,根据所述智能电视的图形处理能力和数学计算能力获取得到。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述智能电视的性能评估分值,具体通过如下公式获取的到:
,其中,
S为所述智能电视的性能评估分值;
为客观测试指标的权重;A为客观测试指标的个数;
为主观测试指标的权重;B为主观测试指标的个数;为第个主 观测试指标的指标值。
4.根据权利要求1至3任一项所述的方法,其特征在于,
所述客观测试指标,包括下述至少两种:
中央处理器性能;随机存取存储器性能;图形处理器性能;内嵌式存储器性能;安全数码卡性能;数据库输入输出端口性能;浮点数性能。
5.一种智能电视性能的评估装置,其特征在于,包括:
指标值获取模块,用于获取对智能电视进行测试时采集的各个测试指标的指标值,其中,所述测试指标包括多个客观测试指标和多个主观测试指标;所述主观测试指标,包括下述至少两种:开机时间体验;语音体验;体感体验;生物特征识别体验;所述主观测试指标的指标值是由用户根据对各个主观测试指标的主观体验进行主观打分的分值;
性能评估分值确定模块,用于根据各个客观测试指标的指标值以及各个主观测试指标的指标值,确定所述智能电视的性能评估分值,其中,所述性能评估分值表示所述智能电视的综合性能;
指标值获取模块,具体通过如下公式获取各个所述客观测试指标的指标值:
,其中,
为第个客观测试指标的指标值;为第个客观测试指标的基准分数;为第个客观测试指标的实测值;为第个客观测试指标的基准值;为第个客观测试指标对应的权重;N为各个客观测试指标的放大系数;
当第个客观测试指标满足第一预设条件时,上述符号为加号,其中,所述第一预设条件为客观测试指标满足:一个客观测试指标的指标值越大,反映智能电视的性能越好的客观测试指标;
当第个客观测试指标满足第二预设条件时,上述符号为减号,其中,所述第二预设条件为客观测试指标满足:一个客观测试指标的指标值越大,反映智能电视的性能越差的客观测试指标。
6.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,第个客观测试指标的实测值,根据所述智能电视的图形处理能力和数学计算能力获取得到。
7.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,性能评估分值确定模块,具体通过如下公式获取所述智能电视的性能评估分值:
,其中,
S为所述智能电视的性能评估分值;
为客观测试指标的权重;A为客观测试指标的个数;
为主观测试指标的权重;B为主观测试指标的个数;为第个主 观测试指标的指标值。
8.根据权利要求5至7任一项所述的装置,其特征在于,
所述客观测试指标,包括下述至少两种:
中央处理器性能;随机存取存储器性能;图形处理器性能;内嵌式存储器性能;安全数码卡性能;数据库输入输出端口性能;浮点数性能。
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