[发明专利]一种钛白粉表面有机硅处理剂包覆量的测定方法有效
申请号: | 201711258952.3 | 申请日: | 2017-12-04 |
公开(公告)号: | CN107976415B | 公开(公告)日: | 2020-05-19 |
发明(设计)人: | 陈建立;王永珊;张美杰;石强强;赵姗姗;李丽娜;王莉萍 | 申请(专利权)人: | 龙蟒佰利联集团股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/3563 | 分类号: | G01N21/3563 |
代理公司: | 焦作市科彤知识产权代理事务所(普通合伙) 41133 | 代理人: | 张莉 |
地址: | 454150 河南省焦作市中*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 钛白粉 表面 有机硅 处理 剂包覆量 测定 方法 | ||
1.一种钛白粉表面有机硅处理剂包覆量的测定方法,其特征在于,该测定方法包括以下步骤:
1)测定待测钛白粉的基料中的碳含量C0;
2)在所述待测钛白粉的基料中添加不同已知量的有机硅助剂,分别测其碳含量Ci;
3)由步骤1)和步骤2)的测定结果计算出不同有机硅助剂添加量的碳含量C=Ci-C0,并推算出每千分之一有机硅助剂所对应的碳含量C1‰有机硅;
4)测定待测钛白粉中的碳含量Cy;
5)由步骤1)、步骤3)和步骤4)的测定结果计算出待测钛白粉中的有机硅包覆量Y有机硅/‰,如式①所示:
Y有机硅/‰=(Cy-C0)/C1‰有机硅 ①。
2.根据权利要求1所述的钛白粉表面有机硅处理剂包覆量的测定方法,其特征在于:各样品中的碳含量采用红外碳硫分析仪测定。
3.根据权利要求1所述的钛白粉表面有机硅处理剂包覆量的测定方法,其特征在于:碳含量的测定中至少取三个样品点进行分析,最后取其平均值。
4.根据权利要求1所述的钛白粉表面有机硅处理剂包覆量的测定方法,其特征在于:步骤2)中,至少测定三组不同有机硅助剂添加量的基料,有机硅助剂的添加量为1~100‰。
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