[发明专利]包括时钟发生电路的半导体器件及使用其的半导体系统

说明书

可以提供一种半导体器件。半导体器件可以包括时钟发生电路。时钟发生电路可以被配置成在第一操作模式和第二操作模式二者中接收数据时钟信号以及产生内部时钟信号。

相关申请的交叉引用

本申请要求2017年5月11日向韩国知识产权局提交的编号为10-2017-0058826的韩国专利申请的优先权，其内容通过引用整体合并于此。

技术领域

各种实施例总体而言可以涉及一种半导体技术，更具体地，涉及一种时钟发生电路、半导体器件和半导体系统。

背景技术

电子装置可以包括大量的电子元件。作为电子装置的计算机系统可以包括很多用半导体器件配置的电子元件。构成计算机系统的半导体器件可以同步于时钟信号来传输和接收数据。随着系统的工作速度增加，时钟信号的速度持续增加，此外，构成系统的半导体器件被设计成工作于更高的频率。为了对这些半导体器件执行精确的测试，用于测试半导体器件的测试仪器应当能够提供高速时钟信号。用于测试半导体器件的测试仪器昂贵，从而半导体器件的制造商不可能与半导体器件的开发速度一致地频繁更换测试仪器。因此，需要能够通过使用表现较差的测试仪器来对半导体器件执行高速测试的方法。

发明内容

在一个实施例中，可以提供一种半导体器件。半导体器件可以包括：时钟发生电路，被配置成：从外部装置接收数据时钟信号，在第一操作模式中接收具有第一频率的第一时钟信号对作为数据时钟信号，在第二操作模式中接收具有第二频率的第二时钟信号对以及与第二时钟信号对具有预定相位差的第三时钟信号对作为数据时钟信号，以及产生具有第二频率的多个内部时钟信号。半导体器件可以包括：数据输入和输出(输入/输出)电路，被配置成基于所述多个内部时钟信号来接收或传输数据。

在一个实施例中，可以提供一种半导体系统。半导体系统可以包括：外部装置，被配置成提供第一数据时钟信号以及提供与第一数据时钟信号具有相同频率而与第一数据时钟信号具有90度相位差的第二数据时钟信号，以及基于占空比信息来调节第一数据时钟信号和第二数据时钟信号的相位。半导体系统可以包括：半导体器件，被配置成：基于第一数据时钟信号和第二数据时钟信号来产生第一测试时钟信号和第二测试时钟信号，提供第一测试时钟信号和第二测试时钟信号作为多个内部时钟信号，以及通过检测第一数据时钟信号和第二数据时钟信号的占空比来产生占空比信息。

在一个实施例中，可以提供一种半导体器件。半导体器件可以包括：时钟发生电路，被配置成基于接收的数据时钟信号来在第一操作模式和第二操作模式二者中接收具有至少一个彼此不同频率的数据时钟信号以及产生内部时钟信号。内部时钟信号可以在第一操作模式中产生，该内部时钟信号与在第二操作模式中产生的内部时钟信号具有实质上相同的频率和相位差。

附图说明

图1是图示根据一个实施例的半导体系统的配置的示例表示的示图。

图2是示意性地图示根据一个实施例的半导体器件的配置的示例表示的示图。

图3是图示根据一个实施例的时钟发生电路的配置的示例表示的示图。

图4a和图4b是用于辅助解释根据实施例的半导体系统和时钟发生电路的操作的波形图的示例表示。

图5是图示根据一个实施例的时钟发生电路的配置的示例表示的示图。

图6是图示根据一个实施例的时钟发生电路的配置的示例表示的示图。

具体实施方式

在下文中，将通过实施例的各个示例参照附图来在下面描述包括时钟发生电路的半导体器件以及半导体系统。