[发明专利]一种基于局部区域显著参数指标的SIFT特征检测优化方法在审

专利信息
申请号: 201711264919.1 申请日: 2017-12-05
公开(公告)号: CN108022263A 公开(公告)日: 2018-05-11
发明(设计)人: 胡衡;徐磊;付涛;刘光辉 申请(专利权)人: 新疆工程学院
主分类号: G06T7/33 分类号: G06T7/33
代理公司: 成都方圆聿联专利代理事务所(普通合伙) 51241 代理人: 曹少华
地址: 830023 新疆维吾尔自*** 国省代码: 新疆;65
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 局部 区域 显著 参数 指标 sift 特征 检测 优化 方法
【权利要求书】:

1.一种基于局部区域显著参数指标的SIFT地图特征点检测优化方法,其特征在于具体步骤如下:

1)对当前帧图像,首先检测出相应的SIFT特征点;

2)将图像均分为M×N个局部区域,M代表行数,N代表列数,并计算各个局部区域的特征显著参数指标值Ii,计算方法如下:

设j=1,2,…;i=1,2,…,M×N;

对含有nj个SIFT特征点的第i个局部区域,先求出其中特征点位置的均值:设u代表水平方向,v代表垂直方向;

u方向上均值:

v方向上均值:

进而求出对应的位置方差:

第j个特征点在u方向上方差:

第j个特征点在v方向上方差:

则有:

不含特征点的局部区域其显著参数指标值记为0;

3)依据所计算的Ii值从高到低依次选取K个局部显著区域;

4)针对每个局部显著区域,从中随机选取不超过m个特征点;为了获得更好的空间分布,选取时应保证这m个SIFT特征点之间的间隔大于某个像素阈值;

5)将所选取的SIFT特征点同当前特征地图进行匹配,若成功匹配对数Match_num低于预设的阈值Match_threshold,那么就需增加特征点的个数;这时,从余下的局部显著区域随机选取(Match_threshold-Match_num)个SIFT特征点,同样仍保证所选特征点之间的间隔大于预设的像素阈值,反之,则无需增广特征点。

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