[发明专利]印制电路板、终端及基于共用测试点的电路测试方法

说明书

本发明公开了一种印制电路板、终端及基于共用测试点的电路测试方法，其中，该印制电路板包括：印制电路板本体，设置在所述印制电路板本体上的测试点、切换开关及N个功能电路；其中，所述测试点与所述切换开关的公共端连接，所述切换开关的第i个连接端与第i个功能电路的待测点连接；N为大于1的正整数，i为大于或等于1，且小于或等于N的正整数。由此，通过利用切换开关，将多个功能电路的待测点分别与同一测试点连接，可以实现通过一个测试点，分别测试多个功能电路的工作状态，节省了印制电路板的空间，节约了印制电路板的制造成本，有利于终端的小型化。

技术领域

本发明涉及电子技术领域，尤其涉及一种印制电路板、终端及基于共用测试点的电路测试方法。

背景技术

近年来，随着电子技术的飞速发展，电子产品不断朝着小型化的方向发展，而电子产品中大多采用印制电路板实现电子元器件的电连接，这就要求印制电路板也要朝着小型化的方向发展。

现有技术，在硬件调试和生产过程中，需要在印制电路板上留测试点来调测硬件功能和性能，而现有的印制电路板上通常会留很多的测试点以满足对不同的功能电路或者不同位置的功能和性能测试，这就占用了印制电路板的大量空间，为了给测试点留出更多空间，印制电路板需要制作的较大，因而制造成本较高，且不利于终端的小型化。

发明内容

本发明旨在至少在一定程度上解决上述的技术问题之一。

本申请提出一种印制电路板，通过利用切换开关，将多个功能电路的待测点分别与同一测试点连接，可以实现通过一个测试点，分别测试多个功能电路的工作状态，节省了印制电路板的空间，节约了印制电路板的制造成本，有利于终端的小型化。

本申请还提出一种终端。

本申请还提出一种基于共用测试点的电路测试方法。

本申请还提出一种测试设备。

本申请还提出一种计算机可读存储介质。

本申请一方面提出一种印制电路板，包括：印制电路板本体，设置在所述印制电路板本体上的测试点、切换开关及N个功能电路；其中，所述测试点与所述切换开关的公共端连接，所述切换开关的第i个连接端与第i个功能电路的待测点连接；N为大于1的正整数，i为大于或等于1，且小于或等于N的正整数。

本申请第二方面提出一种终端，包括如第一方面所述的印制电路板。

本申请第三方面提出一种基于共用测试点的电路测试方法，包括：确定当前时刻切换开关的公共端与各连接端的连接状态，其中所述公共端与测试点连接；根据所述切换开关的连接状态，确定目标功能电路；通过所述测试点获取当前时刻的测试数据；根据所述测试数据，确定所述目标功能电路的工作状态。

本申请第四方面提出一种测试设备，包括：存储器、处理器及通信接口；所述存储器用于存储可执行程序代码；所述通信接口与设置在印制电路板上的测试点连接，用于通过所述测试点获取测试数据；所述处理器通过读取所述存储器中存储的可执行程序代码来运行与所述可执行程序代码对应的程序，以用于执行如第三方面所述的基于共用测试点的电路测试方法。

本申请第五方面提出一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如第三方面所述的基于共用测试点的电路测试方法。

本申请实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：

通过利用切换开关，将多个功能电路的待测点分别与同一测试点连接，可以实现通过一个测试点，分别测试多个功能电路的工作状态，节省了印制电路板的空间，节约了印制电路板的制造成本，有利于终端的小型化。

本发明附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明