[发明专利]一种链式湿化学法制备可控结构多晶黑硅的方法在审
申请号: | 201711277665.7 | 申请日: | 2017-12-06 |
公开(公告)号: | CN108054238A | 公开(公告)日: | 2018-05-18 |
发明(设计)人: | 杜欢;蒲天;吴兢;赵兴国 | 申请(专利权)人: | 江苏辉伦太阳能科技有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人: | 董建林 |
地址: | 210061 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 链式 化学 法制 可控 结构 多晶 方法 | ||
本发明公开了一种链式湿化学法制备可控结构多晶黑硅的方法,采用链式设备,包括以下步骤:用氢氟酸和硝酸混合液去除硅片表面的损伤层;用硝酸铜、硝酸银、双氧水、氢氟酸的混合溶液在硅片表面形成刻蚀洞;用硝酸溶液去除硅片表面银/铜离子;高浓度硝酸、氢氟酸及纳米结构修饰溶液对硅片表面刻蚀洞进行修饰;用氨水和双氧水进一步去除表面可能残留的金属杂质;用氢氟酸和盐酸的混合溶液清洗硅片;烘干即可制得黑硅。本发明的方法简单,设备及原料成本低,制备的黑硅的反射率高,表面规则度高,且表面结构可调控,性能稳定,可以用于太阳能多晶硅电池。
技术领域
本发明属于黑硅制备技术领域,具体涉及一种链式湿化学法制备可控结构多晶黑硅的方法。
背景技术
黑硅是一种表面改性的微结构硅,将硅片经过适当的刻蚀或腐蚀,使硅片表面形成具有纳米尺度的各种圆锥、圆柱的森林结构或密集分布的孔洞结构,这种结构具有良好的陷光作用,使硅片表面呈现黑色,所以称之为黑硅。由于黑硅具有图形化的表面结构,有规则的硅柱阵列,所以具有宽光谱的高吸收率,能够显著降低硅片表面的反射率,可以有效提高太能能电池转化效率。
目前有许多实验室能够通过不同的方法制备出黑硅,如飞秒激光脉冲法、等离子体刻蚀法及金属催化辅助刻蚀法等。飞秒激光脉冲法是将多晶硅硅片置于六氟化硫或硫化氢等气氛中,使用400-1000nm波长的飞秒激光扫描刻蚀硅片,得到纳米黑硅,改变激光通量和单位面积接收的脉冲数可以控制黑硅微结构的高度、纵横比以及间距。等离子体刻蚀法是将硅片浸没在等离子体中,在脉冲偏压下反应离子被注入进入硅片晶格内,与硅片发生反应,生成孔状或针状组织,通过调节工艺参数,可以实现黑硅材料的可控制备。金属辅助催化刻蚀法是在硅片表面沉积如金、银、铜、铂等金属,再浸入氢氟酸和双氧水刻蚀液体系。在金属的诱导催化下,硅片表面形成纳米多孔硅。
飞秒激光制备黑硅表面微结构相对规则,但设备昂贵,制备的黑硅面积小,工艺复杂。等离子体处理相比于飞秒激光作用面积大,可大规模制备,在一定程度上黑硅的形貌可控并且不依赖于晶向,可用于制备多晶硅黑硅,但设备较昂贵,黑硅表面的均匀性较难控制。
采用金属辅助刻蚀法对设备的依耐性低、制备成本低,易于实现大面积黑硅制备,能耗低,与现有的电池生产线兼容性好。目前金属辅助刻蚀法所采用的刻蚀金属盐一般为银的硝酸盐,大量使用价格昂贵且有较大的环境污染风险;有研究发现单独使用铜盐辅助刻蚀形成的黑硅的结构均匀性较差,不易控制黑硅的形貌,重复性较差;而现有的银铜双金属辅助刻蚀法设备成本高且工艺较为复杂,生产的黑硅的反射率偏高,刻蚀黑硅的表面图形不易控制。
发明内容
为解决现有技术的不足,本发明提供一种链式湿化学法制备多晶黑硅的方法,成本低廉、工艺稳定,黑硅结构可控且可获得极低的反射率。
本发明的技术方案为:一种链式湿化学法制备可控结构多晶黑硅的方法,采用链式设备,包括以下步骤:
(1)用氢氟酸和硝酸混合液去除硅片表面的损伤层;
(2)用硝酸铜、硝酸银、双氧水、氢氟酸的混合溶液在硅片表面形成刻蚀洞;
(3)用硝酸溶液去除硅片表面银/铜离子;
(4)高浓度硝酸、氢氟酸及NSR(纳米结构修饰溶液Nano Structure Rebuilding)的混合溶液对硅片表面刻蚀洞进行修饰;
(5)用氨水和双氧水进一步去除表面可能残留的金属杂质;
(6)用氢氟酸和盐酸的混合溶液清洗硅片;
(7)烘干即可制得黑硅。
本发明刻蚀硅片利用的原理如下:
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于江苏辉伦太阳能科技有限公司,未经江苏辉伦太阳能科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201711277665.7/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:插板式的花架体
- 下一篇:一种应用于喀斯特景区的石阶步道及其景观设计方法
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的