[发明专利]光线入射角度测量结果的校准方法

权利要求书

1.一种光线入射角度测量结果的校准方法，其特征在于，所述方法基于包括光学接收装置、计算装置及至少一组具有预置安装参数的微透镜阵列的光线入射角度测量系统，预先任取一组微透镜阵列中的四列微透镜作为校准阵列，所述方法包括：

基于对第一校准阵列的测量结果获取第一入射角度值；

以第一入射角度值作为已知量，并结合第二校准阵列的安装参数获取入射角度修正值；

基于对第三校准阵列的测量结果获取第二入射角度值，并根据第二入射角度值与入射角度修正值计算得到第三入射角度值；

基于第四校准阵列的安装参数对第三入射角度值进行校准，以得到校准后的入射角度值，

所述校准阵列的测量结果的获取过程，包括：

通过光学接收装置获取待测光线经由校准阵列中的各微透镜在光学接收装置上所形成的光斑信息，并通过计算装置根据预置安装参数及光斑信息计算得到待测光线的入射角度值；

其中，安装参数包括：微透镜阵列中相邻两微透镜中心之间的距离、微透镜阵列中各微透镜的焦距、微透镜阵列中各微透镜与垂直于光学接收装置接收面的平面之间的角度，

所述微透镜阵列中各微透镜与垂直于光学接收装置接收面的平面之间的角度相同，各组微透镜阵列与光学接收装置之间的相对角度相同，所述相对角度为微透镜阵列中的各微透镜与垂直于光学接收装置接收面的平面之间的角度，所述相对角度为76度至84度。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于对第一校准阵列的测量结果获取第一入射角度值，包括：

计算待测光线经由第一校准阵列中各微透镜的入射角度值的平均值及残余误差；

根据所述残余误差计算标准差，并根据莱伊达准则剔除含粗大误差的入射角度值；

计算剩余的入射角度值的平均值，以作为第一入射角度值。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述以第一入射角度值作为已知量，并结合第二校准阵列的安装参数获取入射角度修正值，包括：

将第一入射角度值作为已知量，反向求取第二校准阵列中各微透镜与垂直于光学接收装置接收面的平面之间的第一角度值；

将各第一角度值分别与第二校准阵列中各微透镜与垂直于光学接收装置接收面平面之间的实际安装角度的差值的绝对值，与预置精度指标进行比较，并保留所述差值的绝对值不大于预置精度指标所对应的第一角度值；

计算剩余的第一角度值的平均值与第二校准阵列中各微透镜与垂直于光学接收装置接收面平面之间的实际安装角度的差值，并基于所述差值计算得到入射角度修正值。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于对第三校准阵列的测量结果获取第二入射角度值，并根据第二入射角度值与入射角度修正值计算得到第三入射角度值，包括：

计算待测光线经由第三校准阵列中各微透镜的入射角度值的平均值及残余误差；

根据所述残余误差计算标准差，并根据莱伊达准则剔除含粗大误差的入射角度值；

计算剩余的入射角度值的平均值，以作为第二入射角度值；

计算第二入射角度值与入射角度修正值的和，以作为第三入射角度值。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于第四校准阵列的安装参数对第三入射角度值进行校准，以得到校准后的入射角度值，包括：

将第三入射角度值作为已知量，反向求取第四校准阵列中各微透镜与垂直于光学接收装置接收面的平面之间的第二角度值；

计算各第二角度值的平均值及残余误差，根据残余误差计算标准差，并根据莱伊达准则剔除含粗大误差的第二角度值；

将剩余的第二角度值的平均值与第四校准阵列中各微透镜与垂直于光学接收装置接收面平面之间的实际安装角度的差值的绝对值，与预置精度指标进行比较：

如果该差值的绝对值不大于预置精度指标，则将第三入射角度值确定为校准后的入射角度值；

如果该差值的绝对值大于预置精度指标，则重复上述任取该组微透镜阵列中的四列微透镜作为校准阵列并基于校准阵列获取第一入射角度值、入射角度修正值、第三入射角度值的处理过程直至能够确定校准后的入射角度值。