[发明专利]一种基于微分预测的零位自动标定方法有效
申请号: | 201711292618.X | 申请日: | 2017-12-07 |
公开(公告)号: | CN108563210B | 公开(公告)日: | 2020-11-13 |
发明(设计)人: | 张磊;白洁;王瑞;高博 | 申请(专利权)人: | 中国航空工业集团公司西安航空计算技术研究所 |
主分类号: | G05B23/02 | 分类号: | G05B23/02 |
代理公司: | 中国航空专利中心 11008 | 代理人: | 杜永保 |
地址: | 710000 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 微分 预测 零位 自动 标定 方法 | ||
1.一种基于微分预测的零位自动标定方法;其特征在于:包括以下步骤:
1)、获取k时刻的位置信号S(k);
2)、采用预测算法计算k时刻的位置速度信号V(k);
3)、判断S(k)GL是否成立;
4)、若3)成立执行步骤5),若3)不成立则执行步骤7);
5)、计算位置跟踪加速度误差ev,其中,ev=v1–v;
6)、对计算位置跟踪加速度v进行闭环反馈控制,使被控对象的速度稳定在V1,返回步骤1);
7)、判断(v(k)=v1-vx且持续3次)是否成立;
8)、若7)不成立,执行步骤5),否则执行步骤9);
9)、记录当前时刻的位置值并将其作为基值S*(k),以此计算位置闭环的目标值S1=S*(k)+β,β是被控对象的位置稳态误差ess的函数,取β=2*ess;
10)、计算位置误差es,其中,es=S1–S(k);
11)、对计算位置S进行闭环反馈控制,使被控对象的位置稳定在S1;
12)、被控对象的位置稳定在S1,即接触力F∈[5 100]N时,记录连续10次位置数据S0、S1、...、S9,并计算其均值Sm,并将Sm作为位置控制系统的新零位;
其中:
GL:维护人员根据控制系统的安装误差预留的标定范围,GL∈[0 1.0]°;
S:电位计采集的角位置;
V:微分预测的角速度;
S1:被控对象与环境硬接触时刻位置传感器记录的采集值,同时也是位置闭环PI控制的角位置期望值;
V1:速度闭环PI控制的期望角速度值;
es:位置误差,es=S1–S;
es:速度误差,vs=v1–v;
vx:是综合被控对象物理特性、执行机构物理特性和位置对象零位特性,通过试验获取的零位特征速度数据。
2.根据权利要求1所述的一种基于微分预测的零位自动标定方法;其特征在于:所述预测算法采用微分跟踪器算法实现,具体计算方法如下:离散化形式的数字方程如式(1)、(2)所示:
x1(k+1)=x1(k)+h*x2(k) (1)
x2(k+1)=x2(k)+h*fst(x1(k),x2(k),u0(k),r,h) (2)
其中:
u0:被跟踪的输入信号,在此即为电位计采集的进排气门位置信号;
x1:被跟踪信号u0的估计跟踪位置值;
x2:被跟踪信号u0的估计跟踪位置值的微分;
h:离散化采样步长;
fst:为微分跟踪非线性函数;
r:滤波因子。
3.据权利要求1所述的一种基于微分预测的零位自动标定方法;其特征在于:所述闭环反馈控制采用比例-积分(PI)控制算法。
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