[发明专利]显示屏均匀性的测试方法、终端及计算机可读存储介质

权利要求书

1.一种显示屏均匀性的测试方法，其特征在于，所述测试方法包括以下步骤：

获取待测屏的显示状态图片，并获取所述显示状态图片的有效区域，作为所述待测屏对应的测试图片；

获取预设的样本图片，计算所述样本图片对应像素值的样本均值；

获取所述测试图片对应的测试像素值，将所述测试像素值和所述样本均值进行对比，并根据对比结果确定所述待测屏均匀性的测试结果；

其中，所述获取所述测试图片对应的测试像素值，将所述测试像素值和所述样本均值进行对比，并根据对比结果确定所述待测屏均匀性的测试结果的步骤具体包括：

获取所述测试图片内各个像素点对应的测试像素值，将所述测试像素值和所述样本均值进行对比，判断是否存在测试像素值大于所述样本均值的像素点；

在存在所述测试像素值大于所述样本均值的像素点时，则判定所述待测屏的均匀性不满足测试要求；

获取所述测试像素值大于所述样本均值的像素点，作为所述测试图片中不均匀区域的峰值像素点，并获取所述峰值像素点的坐标位置；

根据预设划分规则，将所述测试图片均等划分为区域测试图片，并将所述区域测试图片与对应的区域样本图片叠加处理得到各个区域对应的测试叠加图片；

获取所述测试叠加图片内各个像素点的叠加像素值，根据对应的区域样本均值，判断是否存在叠加像素值小于所述区域样本均值的像素点；

在存在叠加像素值小于所述区域样本均值的像素点时，则获取所述叠加像素值小于所述区域样本均值的像素点，作为所述测试图片中不均匀区域的谷值像素点，并获取所述谷值像素点的坐标位置；

根据所述谷值像素点的坐标位置和所述峰值像素点的坐标位置，确定所述测试图片中不均匀区域的位置区域。

2.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述显示状态图片包括全白场图片和棋盘格图片，所述获取待测屏的显示状态图片，并获取所述显示状态图片的有效区域，作为所述待测屏对应的测试图片的步骤具体包括：

在所述待测屏播放白色图片时，对所述待测屏进行拍摄，获取所述待测屏的全白场图片；

在所述待测屏播放棋盘格图片时，对所述待测屏进行拍摄，获取所述待测屏的棋盘格图片；

根据所述棋盘格图片和预设算法规则，获取所述全白场图片中的有效区域，作为所述待测屏对应的测试图片。

3.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述获取预设的样本图片，计算所述样本图片对应像素值的样本均值的步骤具体包括：

获取参考屏的样本图片，并获取所述样本图片内各个像素点对应的样本像素值；

根据预设计算规则，计算所述各个像素点对应的样本像素值的样本均值。

4.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述获取预设的样本图片，计算所述样本图片对应像素值的样本均值的步骤具体包括：

获取参考屏的样本图片，根据预设划分规则，将所述样本图片均等划分为区域样本图片，并获取各个区域样本图片内各个像素点对应的区域样本像素值；

根据预设计算规则，计算所述各个区域样本像素值对应的区域样本均值。

5.一种显示屏均匀性的测试终端，其特征在于，所述测试终端包括处理器、存储器、以及存储在所述存储器上并可被所述处理器执行的测试程序，其中所述测试程序被所述处理器执行时，实现如权利要求1至4中任一项所述的测试方法的步骤。

6.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有测试程序，其中所述测试程序被处理器执行时，实现如权利要求1至4中任一项所述的测试方法的步骤。