[发明专利]内存整体测试的系统及其方法

说明书

本发明公开一种内存整体测试的系统及其方法，其通过转换内存模块的物理地址范围为内存的逻辑地址范围后，依据内存的逻辑地址范围对内存进行读写测试，并在进行读写测试的过程中侦测与内存对应的错误信息时，将错误信息中的逻辑地址转换为相对应的内存模块的物理地址的技术手段，可以提高测试内存的测试覆盖率与有效性，也可以有效判断发生错误的内存模块，并达成避免测试过程中被操作系统结束执行的技术功效。

技术领域

本发明涉及一种测试系统及其方法，特别指一种内存整体测试的系统及其方法。

背景技术

随着半导体制程技术不断提高，集成电路(IC)的设计规模越来越大，内存、处理器、南北桥等高度复杂的集成电路可能存在的缺陷类型越来越多。另一方面，随着集成电路的复杂度的提高，集成电路产品，特别是内存，在服务器、台式电脑或笔记本电脑、行动装置、以及消费性和商业电子的服务器等计算装置中被大量的使用。

在计算装置运行的过程中，若发生内存错误，除了可能产生错误的结果之外，也可以造成应用程序关闭，甚至导致计算装置当机的情况，尤其是服务器等计算装置的稳定性非常重要。由于内存的稳定性对于计算装置的稳定性影像非常大，为了增加服务器的稳定性，内存测试是一个必要的部分。

内存测试至少有单独对内存模块进行测试，通过BIOS对安装于计算装置中的内存模块进行测试，以及在计算装置的操作系统运行时测试所有内存。其中，在计算装置的操作系统运行时测试内存的方式，目前各家厂商大多使用内存耐压测试(RAM Stress Test,RST)程序来进行。虽然目前的内存耐压测试程序可测试内存的稳定度，但目前的内存耐压测试程序相当耗时，且在操作系统中进行测试无法完整的测试所有内存，此外，目前的内存耐压测试程序在测试的过程中发现错误时，只能取得错误的内存地址，但无法反映出发生错误的内存模块。

综上所述，可知现有技术中长期以来一直存在内存耐压测试程序的测试覆盖率低、有效性差、无法有效判断错误内存模块的问题，因此有必要提出改进的技术手段，来解决此问题。

发明内容

有鉴于现有技术存在内存耐压测试程序可能被操作系统结束执行的问题，本发明遂披露一种内存整体测试的系统及其方法，其中：

本发明所披露的内存整体测试的系统，应用于计算装置所执行的操作系统中，且计算装置包含做为内存的内存模块，本发明所披露的系统至少包含：地址映像模块，用以建立映像信息，映像信息包含内存的逻辑地址范围与内存模块的物理地址范围的对应关系；数据存取模块，用以依据映像信息转换内存模块的物理地址范围为内存的逻辑地址范围，并依据内存的逻辑地址范围对内存进行读写测试；错误侦测模块，用以侦测进行读写测试时所产生的与内存对应的错误信息；错误报告模块，用以依据映像信息将错误信息中的逻辑地址转换为相对应的内存模块的物理地址，并产生与逻辑地址对应的内存模块的模块信息，及用以输出物理地址及模块信息。

本发明所披露的内存整体测试的方法，应用于计算装置所执行的操作系统中，且计算装置包含做为内存的内存模块，本发明所披露的方法的步骤至少包括：建立映像信息，映像信息包含内存模块的物理地址范围与内存的逻辑地址范围的对应关系；依据映像信息转换内存模块的物理地址范围为内存的逻辑地址范围，并依据内存的逻辑地址范围对内存进行读写测试；侦测进行读写测试时所产生的与内存对应的错误信息；依据映像信息将错误信息中的逻辑地址转换为相对应的内存模块的物理地址，并产生与逻辑地址对应的内存模块的模块信息；输出物理地址及模块信息。

本发明所披露的系统与方法如上，与现有技术之间的差异在于本发明通过转换内存模块的物理地址范围为内存的逻辑地址范围后，依据内存的逻辑地址范围对内存进行读写测试，并在进行读写测试的过程中侦测与内存对应的错误信息时，将错误信息中的逻辑地址转换为相对应的内存模块的物理地址，借以解决现有技术所存在的问题，并可以达成避免测试过程中被操作系统结束执行的技术功效。

附图说明