[发明专利]用于泡沫镍表面缺陷的检测方法及装置

权利要求书

1.一种用于泡沫镍表面缺陷的检测方法，其特征在于，该方法包括：

获取泡沫镍的表面图像，并将该表面图像进行预处理，其中预处理后的表面图像的尺寸为N x N，N为整数；

利用水平分割或垂直分割，将该预处理后的表面图像分割为多个第一子块，该多个第一子块的尺寸为N/ix N/i，i大于或等于3；

将该多个第一子块进行表面缺陷识别，若该多个第一子块中的至少一个第一子块被识别为缺陷子块，则利用水平分割或垂直分割将该至少一个第一子块分割为多个第二子块，以对该多个第二子块进行表面缺陷识别，其中，每个第二子块的尺寸为M/j x M/j，M为整数且M等于N/i，j大于或等于3；

其中，所述将该多个第一子块进行表面缺陷识别，包括：

提取该多个第一子块的至少一特征向量；

从该多个第一子块中选择一个第一子块作为第一待测子块；

将该第一待测子块的至少一特征向量与至少一第一标准特征向量进行比较，以对该多个第一子块进行表面缺陷识别，其中每个第一标准特征向量中的分量由该多个第一子块中其他第一子块的对应的特征向量的对应分量加权平均而得；

以及

其中，所述将该多个第二子块进行表面缺陷识别，包括：

提取该多个第二子块的至少一特征向量；

从该多个第二子块中选择一个第二子块作为第二待测子块；

将该第二待测子块的至少一特征向量与至少一第二标准特征向量进行比较，以对该多个第二子块进行表面缺陷识别，其中每个第二标准特征向量中的分量由该多个第二子块中其他第二子块的对应的特征向量的对应分量加权平均而得。

2.根据权利要求1所述的用于泡沫镍表面缺陷的检测方法，其特征在于，

将该至少一特征向量进行分类，并依据分类结果，确定该多个第一子块中的至少一个是否为缺陷子块。

3.根据权利要求2所述的用于泡沫镍表面缺陷的检测方法，其特征在于，

该至少一特征向量与灰度特征、边缘特征、色度特征、纹理特征中的一个或多个相关。

4.根据权利要求3所述的用于泡沫镍表面缺陷的检测方法，其特征在于，该纹理特征包括能量、熵、对比度和逆差矩，以及利用灰度共生矩阵计算该纹理特征。

5.根据权利要求3所述的用于泡沫镍表面缺陷的检测方法，其特征在于，该灰度特征与灰度密度函数及/或灰度累积分布函数相关，并依据灰度密度函数/或灰度累积分布函数，来判断该多个第一子块中的至少一个是否为缺陷子块。

6.根据权利要求1所述的用于泡沫镍表面缺陷的检测方法，其特征在于，依据缺陷子块与非缺陷子块之间的差异程度，确定j的取值。

7.根据权利要求1所述的用于泡沫镍表面缺陷的检测方法，其特征在于，

提取该多个第二子块中的每一个的至少一特征向量；若该多个第二子块中的每一个的至少一特征向量之间均不相似，则缺陷尺寸大于M/j x M/j。

8.一种用于泡沫镍表面缺陷的检测装置，其特征在于，该装置包括一个或多个电子电路，用于执行存储在存储器中的程序以实现权利要求1-7种任一项所述的方法。