[发明专利]双路激光干涉精确测量金属棒热膨胀系数的装置

权利要求书

1.一种双路激光干涉精确测量金属棒热膨胀系数的装置，其特征在于：包括激光干涉测微小变化装置、内置被测金属棒的加热恒温箱和MCU总控制器，所述被测金属棒两端具有光反射端面；所述激光干涉测微小变化装置设有激光干涉测微小变化第一模块和激光干涉测微小变化第二模块，激光干涉测微小变化第一模块设在恒温箱的左侧端，激光干涉测微小变化第一模块的检测端与金属棒的左侧位置相对，检测金属棒左边方向的长度微小变化；激光干涉测微小变化第二模块设在恒温箱的右侧端，激光干涉测微小变化第二模块的检测端与金属棒的右侧位置相对，检测金属棒右边方向的长度微小变化；所述激光干涉测微小变化第一模块和激光干涉测微小变化第二模块与MCU总控制器为电学连接。

2.根据权利要求1所述的双路激光干涉精确测量金属棒热膨胀系数的装置，其特征在于：激光干涉测微小变化第一模块包括激光器、表面全反射镜、扩束镜、条纹成像板、条纹识别摄像头、半反射镜；所述激光器设置在半反射镜的左侧，半反射镜的右侧与金属棒的左侧位置相对；半反射镜呈45度角设置，其上端设置表面全反射镜，下端设置扩束镜，所述条纹成像板与扩束镜相对设置；所述条纹识别摄像头设在条纹成像板一侧，识别条纹成像板上的光学条纹。

3.根据权利要求1所述的双路激光干涉精确测量金属棒热膨胀系数的装置，其特征在于：激光干涉测微小变化第二模块包括激光器、表面全反射镜、扩束镜、条纹成像板、条纹识别摄像头、半反射镜；所述激光器设置在半反射镜的右侧，半反射镜的左侧与金属棒的右侧位置相对；半反射镜呈45度角设置，其上端设置表面全反射镜，下端设置扩束镜，所述条纹成像板与扩束镜相对设置；所述条纹识别摄像头设在条纹成像板一侧，识别条纹成像板上的光学条纹。

4.根据权利要求2所述的双路激光干涉精确测量金属棒热膨胀系数的装置，其特征在于：激光器发出激光，激光经过半反射镜，被分出A、B两束激光，A束激光被反射到表面全反射镜，经过表面全反射镜进行全反射，A束激光再穿过半反射镜到扩束镜；半反射镜将B束激光反射至金属棒的左端面，金属棒的左端面将B束激光再反射至半反射镜，经过半反射镜反射至扩束镜；A、B束激光经过扩束镜汇聚，并投放到条纹成像板上，条纹识别摄像头识别条纹成像板上的光学条纹，将信息传送到MCU总控制器进行分析和处理。

5.根据权利要求3所述的双路激光干涉精确测量金属棒热膨胀系数的装置，其特征在于：激光器发出激光，激光经过半反射镜，被分出A、B两束激光，A束激光被反射到表面全反射镜，经过表面全反射镜进行全反射，A束激光再穿过半反射镜到扩束镜；半反射镜将B束激光反射至金属棒的左端面，金属棒的左端面将B束激光再反射至半反射镜，经过半反射镜反射至扩束镜；A、B束激光经过扩束镜汇聚，并投放到条纹成像板上，条纹识别摄像头识别条纹成像板上的光学条纹，将信息传送到MCU总控制器进行分析和处理。

6.根据权利要求1所述的双路激光干涉精确测量金属棒热膨胀系数的装置，其特征在于：恒温箱包括箱体、加热棒、温度传感器、支撑被测金属棒的支架、设在箱体两侧端的全透射镜；所述支架固定在支架内，加热棒至少设有两根，设在箱体的支架的两侧；所述温度传感器通过一支杆固定在箱体内腔；所述全透射镜与被测金属棒的两侧端面正对。

7.根据权利要求6所述的双路激光干涉精确测量金属棒热膨胀系数的装置，其特征在于：加热棒在MCU控制器的控制下，给被测金属棒均衡的加热，让金属棒在加热时产生膨胀，让金属棒长度发生微小变化。

8.根据权利要求7所述的双路激光干涉精确测量金属棒热膨胀系数的装置，其特征在于：温度传感器检测恒温箱和被测金属棒的温度，并将温度信号传送给MCU控制器。