[发明专利]一种提高Y波导器件偏振性能测量准确性的方法

权利要求书

1.一种提高Y波导器件偏振性能测量准确性的方法，其特征是，第一部分：分别设定待测Y波导的输入保偏尾纤与起偏器保偏尾纤连接点、Y波导的输出保偏尾纤与检偏器保偏尾纤连接点的对轴角度同时为0°和同时为90°，使得传输在Y波导输入/输出保偏尾纤和芯片的两个正交偏振轴中的光信号实现能量交换，根据前后两次测量所得白光干涉信号，获取Y波导器件芯片消光比；第二部分：计算两次测量结果的平均值作为最终测量值；

所述的第一部分为下列两种具体方法中的一种，

第一种具体包括：

(1)测量随机选取的45°起偏器Ⅰ(201)的保偏尾纤Ⅰ(202)长度，记为l_p，并计算保偏尾纤Ⅰ对应的光程，记为S_p＝l_p×Δn_b；

(2)测量随机选取的45°检偏器Ⅱ(209)的保偏尾纤Ⅱ(208)长度，记为l_a，并计算保偏尾纤Ⅱ对应的光程，记为S_a＝l_a×Δn_b；Δn_b为保偏尾纤Ⅰ和Ⅱ的线性双折射；

(3)测量并记录待测Y波导器件的输入尾纤(204)长度l_Y-i、输出尾纤(206)长度l_Y-o、以及芯片(205)长度l_Y；

(4)计算出Y波导器件的输入尾纤(204)、输出尾纤(206)、以及芯片(205)所对应的光程，并分别记为S_Y-i＝l_Y-i×Δn_b、S_Y-o＝l_Y-o×Δn_b、S_Y＝l_Y×Δn_Y，Δn_Y为Y波导芯片的线性双折射；

(5)将45°起偏器尾纤与Y波导输入尾纤连接点(203)、45°检偏器尾纤与Y波导输出尾纤连接点(207)的对轴角度θ₁-θ₂设定为0°-0°，并进行熔接；

(6)将熔接后的Y波导待测光路接入白光干涉仪系统，获得第一次测量的干涉信号，其横坐标为扫描光程、单位μm，纵坐标为归一化偏振串音强度I、单位dB；

(7)从获得的干涉信号中提取出Y波导芯片消光比测量信息；如果Y波导尾纤的快轴与波导芯片的通光轴对准即波导为快轴工作，通过计算光程差，将芯片消光比特征干涉峰出现的位置定位到|S_p+S_a+S_Y-i+S_Y-o+S_Y|处；

(8)如果Y波导尾纤的慢轴与波导芯片的通光轴对准即波导为慢轴工作，通过计算光程差，将芯片消光比特征干涉峰出现的位置定位到|S_p+S_a+S_Y-i+S_Y-o-S_Y|处；

(9)获取第一次测量所得的Y波导芯片消光比数值，记为I₁；

(10)将步骤(5)所述的两个光纤连接点的对轴角度θ₁-θ₂调节为90°-90°，并进行熔接；

(11)将熔接后的Y波导待测光路再次接入白光干涉仪系统，获得第二次测量的干涉信号，其横坐标为扫描光程、单位μm，纵坐标为归一化偏振串音强度I、单位dB；

(12)如果Y波导尾纤的快轴与波导芯片的通光轴对准即波导为快轴工作，通过计算光程差，将芯片消光比特征干涉峰出现的位置定位到|S_p+S_a-S_Y-i-S_Y-o-S_Y|处；

(13)如果Y波导尾纤的慢轴与波导芯片的通光轴对准即波导为慢轴工作，通过计算光程差，将芯片消光比特征干涉峰出现的位置定位到|S_p+S_a-S_Y-i-S_Y-o+S_Y|处；

(14)获取第二次测量所得的Y波导芯片消光比数值，记为I₂；

第二种具体包括：

(1)测量随机选取的45°起偏器Ⅰ(201)的保偏尾纤Ⅰ(202)长度，记为l_p，并计算保偏尾纤Ⅰ对应的光程，记为S_p＝l_p×Δn_b；

(2)测量随机选取的45°检偏器Ⅱ(209)的保偏尾纤Ⅱ(208)长度，记为l_a，并计算保偏尾纤Ⅱ对应的光程，记为S_a＝l_a×Δn_b；Δn_b为保偏尾纤Ⅰ和Ⅱ的线性双折射；

(3)测量并记录待测Y波导器件的输入尾纤(204)长度l_Y-i、输出尾纤(206)长度l_Y-o、以及芯片(205)长度l_Y；

(4)计算出Y波导器件的输入尾纤(204)、输出尾纤(206)、以及芯片(205)所对应的光程，并分别记为S_Y-i＝l_Y-i×Δn_b、S_Y-o＝l_Y-o×Δn_b、S_Y＝l_Y×Δn_Y，Δn_Y为Y波导芯片的线性双折射；

(5)将45°起偏器尾纤与Y波导输入尾纤连接点(203)、45°检偏器尾纤与Y波导输出尾纤连接点(207)的对轴角度θ₁-θ₂设定为90°-90°，并进行熔接；

(6)将熔接后的Y波导待测光路接入白光干涉仪系统，获得第一次测量的干涉信号，其横坐标为扫描光程、单位μm，纵坐标为归一化偏振串音强度I、单位dB；

(7)从获得的干涉信号中提取出Y波导芯片消光比测量信息；如果Y波导尾纤的快轴与波导芯片的通光轴对准即波导为快轴工作，通过计算光程差，将芯片消光比特征干涉峰出现的位置定位到|S_p+S_a-S_Y-i-S_Y-o-S_Y|处；

(8)如果Y波导尾纤的慢轴与波导芯片的通光轴对准即波导为慢轴工作，通过计算光程差，将芯片消光比特征干涉峰出现的位置定位到|S_p+S_a-S_Y-i-S_Y-o+S_Y|处；

(9)获取第一次测量所得的Y波导芯片消光比数值，记为I₁；

(10)将步骤(5)所述的两个光纤连接点的对轴角度θ₁-θ₂调节为0°-0°，并进行熔接；

(11)将熔接后的Y波导待测光路再次接入白光干涉仪系统，获得第二次测量的干涉信号，其横坐标为扫描光程、单位μm，纵坐标为归一化偏振串音强度I、单位dB；

(12)如果Y波导尾纤的快轴与波导芯片的通光轴对准即波导为快轴工作，通过计算光程差，将芯片消光比特征干涉峰出现的位置定位到|S_p+S_a+S_Y-i+S_Y-o+S_Y|处；

(13)如果Y波导尾纤的慢轴与波导芯片的通光轴对准即波导为慢轴工作，通过计算光程差，将芯片消光比特征干涉峰出现的位置定位到|S_p+S_a+S_Y-i+S_Y-o-S_Y|处；

(14)获取第二次测量所得的Y波导芯片消光比数值，记为I₂。