[发明专利]用于激光测距设备的测距校准方法和装置

说明书

本发明提供了一种用于激光测距设备的测距校准方法和装置，该测距校准方法包括：采集固定设置的激光测距设备多次进行多角度激光扫描得到的扫描数据，并根据全部的扫描数据生成波形数据点集合，在所述波形数据点集合中提取全部的滤光罩回波集合；对数据点数量最多的滤光罩回波集合进行多项式拟合，得到滤光罩回波计算模型；根据所述滤光罩回波计算模型得到滤光罩回波特征信息的特征值的标准差；判断所述标准差是否大于第一阈值，若是，则判定所述激光测距设备的滤光罩回波不一致；对滤光罩回波不一致的激光测距设备进行校准。本发明能够有效检测设有滤光罩的激光测距设备的滤光罩回波的一致性，并能够对滤光罩回波不一致的激光测距设备进行校准。

技术领域

本发明涉及激光测距技术领域，具体涉及一种用于激光测距设备的测距校准方法和装置。

背景技术

脉冲激光测距原理是由激光管发射一束激光窄脉冲信号，通过计算激光窄脉冲信号在激光器与目标待测物之间的飞行时间，来计算激光器与目标待测物之间的距离。

在实际应用中，为了避免环境光及周遭灰尘、雨水等恶劣天气对激光器的影响，通常会在激光器外壳上增加滤光罩。

但是，采用这种方式会对激光器的测距精度造成影响，表现在滤光罩回波叠加到计时前沿值，影响激光测距精度。除此以外，对于扫描角度较大的激光器，通常使用的是弧形滤光罩，而加工过程中，弧形滤光罩的曲率半径不能得到很好的保证，并且若激光器的发射光源不在弧形滤光罩的中心时，会造成激光器在不同扫描角度下，滤光罩回波不一致的现象。这种现象的产生，会导致激光器在不同扫描角度下，测距能力及测距精度不一致的现象，而这种现象，在我们使用扫描激光传感器的时候，没有一个行之有效的检测方案。

发明内容

针对现有技术中的问题，本发明提供一种用于激光测距设备的测距校准方法和装置，能够有效检测设有滤光罩的激光测距设备的滤光罩回波的一致性，且测距过程准确且高效，并能够对滤光罩回波不一致的激光测距设备进行校准。

为解决上述技术问题，本发明提供以下技术方案：

第一方面，本发明提供一种用于激光测距设备的测距校准方法，所述测距校准方法包括：

步骤1：采集固定设置的激光测距设备多次进行多角度激光扫描得到的扫描数据，并根据全部的扫描数据生成波形数据点集合；

步骤2：在所述波形数据点集合中提取全部的滤光罩回波集合，其中，所述滤光罩回波集合为所述激光测距设备上滤光罩的回波集合；

步骤3：对数据点数量最多的滤光罩回波集合进行多项式拟合，得到滤光罩回波计算模型；

步骤4：根据所述滤光罩回波计算模型得到滤光罩回波特征信息的特征值的标准差；

步骤5：判断所述标准差是否大于第一阈值，若是，则判定所述激光测距设备的滤光罩回波不一致；

步骤6：对滤光罩回波不一致的激光测距设备进行校准。

进一步地，所述步骤4包括：

步骤41：将其他各滤光罩回波集合带入所述滤光罩回波计算模型进行验证，计算得到各滤光罩回波集合的模型匹配度；

步骤42：根据各滤光罩回波集合的匹配度，计算得到激光测距设备在不同角度下的模型匹配度的算数平均值；

步骤43：根据所述模型匹配度的算数平均值，计算得到滤光罩回波特征信息的特征值的标准差。

进一步地，所述测距校准方法还包括：

在所述波形数据点集合中提取正常回波集合；

相对应的，所述步骤6包括：