[发明专利]OTP存储单元的上电方法和装置

说明书

本发明实施例提供一种一次性可编程OTP存储单元的上电方法和装置，应用于指纹模组，所述指纹模组包括具有多个管脚的连接器，所述OTP存储单元与所述连接器的OTP管脚连接，所述方法包括：将所述指纹模组的连接器接入测试板进行功能测试，并且控制测试板向所述OTP管脚输入低电平；在功能测试的结果满足预设通过条件后，控制测试板向所述OTP管脚输入高电平，以对所述OTP存储单元上电。本发明实施例的方法可有效防止偏位导致的OTP误烧录导致指纹模组损毁，不会对OTP进行误烧录，避免了指纹模组由于烧录损毁而导致功能异常或失效的问题。

技术领域

本发明涉及电子技术领域，特别是涉及一种一次性可编程OTP存储单元的上电方法和一种一次性可编程OTP存储单元的上电装置。

背景技术

随着指纹识别越来越广泛的应用于移动终端，对指纹模组的质量追求也越来越高。

目前的指纹模组设计生产中，除了环境中的电过应力(EOS，Electrical OverStress)，指纹模组或芯片本身的不同管脚之间也会产生电过应力。特别是当相邻两个管脚之间存在较大压差时，会有更高概率导致指纹模组功能异常或失效。

发明内容

本发明实施例提供了一种一次性可编程OTP存储单元的上电方法和一种一次性可编程OTP存储单元的上电装置以解决指纹组件的功能异常或失效的问题。

为了解决上述问题，本发明实施例公开了一种一次性可编程OTP存储单元的上电方法，应用于指纹模组，所述指纹模组包括具有多个管脚的连接器，所述OTP存储单元与所述连接器的OTP管脚连接，所述方法包括：

将所述指纹模组的连接器接入测试板进行功能测试，并且控制测试板向所述OTP管脚输入低电平；

在功能测试的结果满足预设通过条件后，控制测试板向所述OTP管脚输入高电平，以对所述OTP存储单元上电。

本发明实施例还公开了一种一次性可编程OTP存储单元的上电装置，应用于指纹模组，所述指纹模组包括具有多个个管脚的连接器，所述OTP 存储单元与所述连接器的OTP管脚连接，所述装置包括：

功能测试模块，用于将所述指纹模组的连接器接入测试板进行功能测试，并且控制测试板向所述OTP管脚输入低电平；

存储单元上电模块，用于在功能测试的结果满足预设通过条件后，控制测试板向所述OTP管脚输入高电平，以对所述OTP存储单元上电。

本发明实施例包括以下优点：

在本发明实施例中，在对OTP存储单元进行烧录之前，先进行指纹模组的功能测试。在功能测试的结果满足预设通过条件后，控制测试板向连接板的OTP管脚输入高电平，由OTP管脚将电压输出到OTP存储单元，从而对OTP存储单元进行烧录。在烧录完成后，控制测试板停止向OTP管脚供电。本发明实施例的方法可有效防止偏位导致的OTP误烧录导致指纹模组损毁，不会对OTP进行误烧录，避免了指纹模组由于烧录损毁而导致功能异常或失效的问题。

附图说明

图1是一种现有的指纹模组的结构图；

图2是图1所示的指纹模组的连接器的示意图；

图3是另一个现有的指纹模组的结构图；

图4是本发明的一种指纹模组实施例的结构图；

图5是图4所示的指纹模组的连接器的示意图；

图6是本发明实施例中一种一次性可编程OTP存储单元的上电方法实施例的步骤流程图；

图7是本发明的一种一次性可编程OTP存储单元的上电装置实施例的结构框图。

具体实施方式