[发明专利]一种共轴反射式系统装调过程中高精度测角方法

权利要求书

1.一种共轴反射式系统装调过程中高精度测角方法，用于检测空间遥感器次镜相对于空间遥感器主镜的角度变化，其特征在于：包括如下步骤：

S1，在待测空间遥感器的主镜和次镜上分别安装平面反射镜(1)；

S2，将待测空间遥感器置于干涉仪(2)前，启动干涉仪(2)进行调试；

S3，调节待测空间遥感器的角度；

S4，架设经纬仪(3)；

S5，利用经纬仪(3)进行测量并记录数据；

S6，根据数据计算次镜法线与主镜法线的夹角。

2.根据权利要求1所述的一种共轴反射式系统装调过程中高精度测角方法，其特征在于：所述S1中，主镜镜框上固定安装平面反射镜(1)并涂覆螺纹胶；次镜支撑架上固定安装平面反射镜(1)并涂覆螺纹胶。

3.根据权利要求2所述的一种共轴反射式系统装调过程中高精度测角方法，其特征在于：所述S1中，平面反射镜(1)的直径设为100mm。

4.根据权利要求1所述的一种共轴反射式系统装调过程中高精度测角方法，其特征在于：所述S2中，根据干涉仪(2)出射光线调整待测空间遥感器，使主镜和次镜上的平面反射镜(1)均位于干涉仪(2)出射光线的范围之内。

5.根据权利要求1所述的一种共轴反射式系统装调过程中高精度测角方法，其特征在于：所述S3中，还包括如下具体步骤：

S3.1，将经纬仪(3)置于主镜的平面反射镜(1)前，根据电子水泡调节经纬仪(3)至水平，使经纬仪(3)自准直于主镜的平面反射镜(1)，记录此时俯仰角读数V；

S3.2，将干涉仪(2)出射光线亮度调整至干涉仪(2)出射光线最大亮度的10％，再利用经纬仪(3)测量干涉仪(2)出射光线的出射角度，记录此时俯仰角读数V₀；

S3.3，调节待测空间遥感器的俯仰角，直至V＝V₀；

S3.4，切换干涉仪(2)至Align模式，水平转动待测空间遥感器，直至主镜的平面反射镜(1)光点出现在干涉仪(2)视场内；

S3.5，调节待测空间遥感器的倾角，使上述光点位于干涉仪(2)视场中心；切换干涉仪(2)至干涉条纹图模式，再通过微调待测空间遥感器倾角使干涉条纹图处于零条纹状态。

6.根据权利要求1所述的一种共轴反射式系统装调过程中高精度测角方法，其特征在于：所述S4中，调节经纬仪(3)支架高度，使经纬仪(3)置于次镜的平面反射镜(1)和干涉仪(2)之间，并调节经纬仪(3)至水平。

7.根据权利要求1所述的一种共轴反射式系统装调过程中高精度测角方法，其特征在于：所述S5中，使经纬仪(3)自准直于干涉仪(2)出射光线，记录此时经纬仪(3)的水平角H₁和竖直角V₁；再使经纬仪(3)自准直于次镜的平面反射镜(1)，记录此时经纬仪(3)的水平角H₂和竖直角V₂。