[发明专利]一种间接测量磁场大小的系统与方法在审
申请号: | 201711311834.4 | 申请日: | 2017-12-11 |
公开(公告)号: | CN107797081A | 公开(公告)日: | 2018-03-13 |
发明(设计)人: | 邓娜;王启玉;何官送;张于峰;张啊文 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | G01R33/038 | 分类号: | G01R33/038 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所12201 | 代理人: | 宋洁瑾 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 间接 测量 磁场 大小 系统 方法 | ||
1.一种间接测量磁场大小的系统,其特征在于,包括电子天平、导磁衔铁和磁铁支架台三部分,所述导磁衔铁设置于电子天平上面,所述磁铁支架台包括圆形底座,设置于圆形底座上的铁架,所述铁架通过螺丝旋钮连接载物架。
2.根据权利要求1所述间接测量磁场大小的系统,其特征在于,所述电子天平托盘表面为PVC材料。
3.一种间接测量磁场大小的方法,其特征在于,包括如下步骤:
(1)当电子天平上的导磁衔铁上部无磁场时,由于电子天平受到导磁衔铁重力作用,其显示屏自动显示其重量,记为m1;
(2)调整螺丝旋钮使载物架距导磁衔铁一定高度,记为h;
(3)当导磁衔铁受放置在载物架上的永久磁铁磁场影响时,导磁衔铁足够大,上部磁场在导磁衔铁的水平面中全部落入导磁衔铁中,由于受到磁场作用,导磁衔铁将会受到垂直向上的力,由力的平衡原理知,电子天平所受到的导磁衔铁的压力将会降低,其电子天平显示屏显示值将会减小,稳定后示数为m2;
(4)利用该磁场测量系统测得导磁衔铁距载物架h处水平面所受力为(m1-m2)·g;
(5)导磁衔铁距载物架h处水平面磁场强度为μ为真空磁导率,μ=4π×10-7H/m;S为导磁衔铁面积;式中m、S、B单位分别为kg、m2、T。
4.根据权利要求3所述间接测量磁场大小的方法,其特征在于,所述步骤(2)调整螺丝旋钮使载物架水平且位于导磁衔铁中心处。
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