[发明专利]一种非参数异常值检测方法、系统及电子设备在审

专利信息
申请号: 201711315504.2 申请日: 2017-12-11
公开(公告)号: CN109905187A 公开(公告)日: 2019-06-18
发明(设计)人: 黄晓霞;常杰 申请(专利权)人: 深圳先进技术研究院
主分类号: H04B17/382 分类号: H04B17/382
代理公司: 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 代理人: 赵勍毅
地址: 518055 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 子序列 异常值检测 非参数 电子设备 判定 认知无线电技术 计算复杂度 距离计算 准确率 申请 应用 表现
【权利要求书】:

1.一种非参数异常值检测方法,其特征在于,包括:

步骤a:计算序列中正常值子序列分布p与异常值子序列分布q之间的第一MMD距离,并计算序列中不能准确表现出正常值子序列分布p的单个子序列与除了该单个子序列以外的其他子序列之间的第二MMD距离;

步骤b:根据所述第一MMD距离计算判断阀值;

步骤c:判断所述第二MMD距离是否大于判断阀值,如果第二MMD距离大于判断阀值,判定所述第二MMD距离对应的单个子序列是异常值子序列;否则,判定所述第二MMD距离对应的单个子序列是正常值子序列。

2.根据权利要求1所述的非参数异常值检测方法,其特征在于,在所述步骤a中,所述正常值子序列分布p与异常值子序列分布q之间的第一MMD距离Ddistribute为:

Ddistribute=maxi,jMMD2[Xi,Xj]=MMD2[p,q]

上述公式中,Xi和Xj分别表示序列X中第i个子序列和第j个子序列;

所述单个子序列与除了该单个子序列以外的其他子序列之间的第二MMD距离为:

在上述公式中,Xk表示序列X中不能准确表现出正常值子序列分布p的单个子序列,表示去除Xk的其他子序列,即n为序列X中的子序列个数,1≤k≤n。

3.根据权利要求2所述的非参数异常值检测方法,其特征在于,在所述步骤b中,所述根据第一MMD距离计算判断阀值的计算公式为:

δ=Ddistribute/2。

4.根据权利要求3所述的非参数异常值检测方法,其特征在于,所述步骤b与步骤c之间还包括:计算所述序列的维度,并根据所述第一MMD距离和判断阀值判断维度是否不小于设定的维度下限,如果不小于设定的维度下限,执行步骤c;否则,重新执行步骤a。

5.根据权利要求4所述的非参数异常值检测方法,其特征在于,所述判断维度是否不小于设定的维度下限的公式为:

在上述公式中,η是任意一个正数常量,独立于其他参数值,s是异常子序列,对任意(x,y),都有0≤k(x,y)≤K。

6.一种非参数异常值检测系统,其特征在于,包括:

距离计算模块:用于计算序列中正常值子序列分布p与异常值子序列分布q之间的第一MMD距离,并计算序列中不能准确表现出正常值子序列分布p的单个子序列与除了该单个子序列以外的其他子序列之间的第二MMD距离;

阀值计算模块:用于根据所述第一MMD距离计算判断阀值;

序列判断模块:用于判断所述第二MMD距离是否大于判断阀值,如果第二MMD距离大于判断阀值,判定所述第二MMD距离对应的单个子序列是异常值子序列;否则,判定所述第二MMD距离对应的单个子序列是正常值子序列。

7.根据权利要求6所述的非参数异常值检测系统,其特征在于,所述正常值子序列分布p与异常值子序列分布q之间的第一MMD距离Ddistribute为:

Ddistribute=maxi,jMMD2[Xi,Xj]=MMD2[p,q]

上述公式中,Xi和Xj分别表示序列X中第i个子序列和第j个子序列;

所述单个子序列与除了该单个子序列以外的其他子序列之间的第二MMD距离为:

在上述公式中,Xk表示序列X中不能准确表现出正常值子序列分布p的单个子序列,表示去除Xk的其他子序列,即n为序列X中的子序列个数,1≤k≤n。

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