[发明专利]基于内插器的测试程序评估

说明书

本申请涉及基于内插器的测试程序评估。一个示例包括测试系统(100)，该测试系统包含印刷电路板(102)和切换内插器板(104)。切换内插器板(104)包括探测点(108)、第一总线(112)、第二总线(114)和一组开关(106)。每个开关(106)包含第一端子(“1 COMM”)、第二端子(“2”)和第三端子(“4”)，第一端子(“1 COMM”)被耦合至集成电路器件(110)的相应引脚，第二端子(“2”)被耦合至第一总线(112)，第三端子(“4”)被耦合至第二总线(114)。该组开关(106)中的每一个具有第一状态和第二状态，该第一状态在短路测试期间通过第一总线(112)选择性地将集成电路器件(110)的一对引脚彼此耦合，并且该第二状态在电压电平尖峰测试期间通过第二总线(114)选择性地将集成电路器件(110)的至少一个引脚耦合至探测点(108)。

技术领域

本申请总体涉及测试系统，并且更具体地涉及基于内插器的测试程序评估。

背景技术

自动测试设备或自动化测试设备(ATE)是在集成电路器件(即所谓的被测器件(DUT))上执行测试的装置，其使用自动化技术来快速执行测试并评估测试结果。ATE可以是简单的计算机控制的数字万用表或者包含几十个能自动测试并诊断集成电路器件中的故障的复杂测试工具(真实的或模拟的电子测试设备)的复杂系统。在一些实施方式中，ATE被耦合至示波器以允许测试技术人员可视地查看测试的结果。

发明内容

一个示例包括一种测试系统，该测试系统包括印刷电路板和切换内插器板。印刷电路板包括耦合至自动测试装置的输入/输出端子的端子。切换内插器板将印刷电路板的端子耦合至集成电路器件，并且包含探测点、第一总线、第二总线和一组开关。每个开关包含第一端子、第二端子和第三端子，第一端子被耦合至集成电路器件的相应引脚，第二端子被耦合至第一总线，并且第三端子被耦合至第二总线。该组开关中的每个开关具有第一状态和第二状态，该第一状态在评估由自动测试装置执行的测试程序的短路测试期间通过第一总线选择性地将集成电路器件的一对引脚彼此耦合，该第二状态在评估由自动测试装置执行的程序生成的信号的电压电平尖峰测试期间通过第二总线选择性地将集成电路器件的至少一个引脚耦合至探测点。

另一个示例包括一种测试方法。该测试方法包括将印刷电路板的端子耦合至自动测试装置的输入/输出端子。该测试方法进一步包括用包含一组开关的切换内插器板将印刷电路板的端子耦合至集成电路器件。该测试方法进一步包括将来自一组开关的每个开关在每个开关的第一端子处耦合至集成电路器件的相应引脚，在每个开关的第二端子处耦合至第一总线，并且在每个开关的第三端子处耦合至第二总线。该测试方法进一步包括：在每个开关的第一状态期间，在评估由自动测试装置执行的测试程序的短路测试期间，通过第一总线选择性地将所选的一对引脚彼此耦合。该测试方法进一步包括：在每个开关的第二状态期间，在评估由自动测试装置执行的测试程序产生的信号的电压电平尖峰测试期间，通过第二总线选择性地将集成电路器件的所选引脚耦合至切换内插器板的探测点。

另一个示例包括一种测试系统。该测试系统包括印刷电路板、切换内插器板、第一器件接触器和第二器件接触器以及手动致动器。印刷电路板包括耦合至自动测试装置的输入/输出端子的端子。切换内插器板将印刷电路板的端子耦合至集成电路器件，并且包含探测点、第一总线、第二总线和一组开关。该组开关中的每个开关具有第一状态和第二状态，该第一状态在评估由自动测试装置执行的测试程序的短路测试期间通过第一总线选择性地将集成电路器件的一对引脚彼此耦合，该第二状态在评估由自动测试装置执行的测试程序生成的信号的电压电平尖峰测试期间通过第二总线选择性地将集成电路器件的至少一个引脚耦合至探测点。第一器件接触器和第二器件接触器分别将印刷电路板耦合至切换内插器以及将内插器板耦合至集成电路器件。手动致动器将集成电路器件手动安装至切换内插器。

附图说明

图1示出测试系统的一个示例。

图2示出测试系统的另一个示例。

图3A-C示出与切换内插器板一起使用的开关的示例开关位置。