[发明专利]一种水-岩作用影响深度的检测装置和方法在审
申请号: | 201711318738.2 | 申请日: | 2017-12-12 |
公开(公告)号: | CN108132301A | 公开(公告)日: | 2018-06-08 |
发明(设计)人: | 邓华锋;支永艳;孙旭曙;段玲玲;潘登;张吟钗;王伟 | 申请(专利权)人: | 三峡大学 |
主分类号: | G01N29/07 | 分类号: | G01N29/07 |
代理公司: | 宜昌市三峡专利事务所 42103 | 代理人: | 成钢 |
地址: | 443002*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 超声波探头 作用影响 超声波主机 发射探头 接收探头 岩石表层 探测 超声波探测仪 测试原理 检测设备 检测装置 理论公式 数据采集 数据分析 作用周期 超声波 检测 画线 清岩 岩石 传播 | ||
1.一种水-岩作用影响深度的检测设备,其特征在于:所述设备包括超声波主机(1)、超声波探头,超声波主机(1)与超声波探头连接;所述超声波探头包括发射探头(2)、接收探头(3);所述发射探头(2)与所述接收探头(3)均设在同一个探测面(4)的探测上(5)。
2.根据权利要求1所述的一种水-岩作用影响深度的检测设备,其特征在于:所述超声波主机(1)为MN-4B非金属超声检测分析仪。
3.根据权利要求2所述的一种水-岩作用影响深度的检测方法,其特征在于:方法包括清岩、画线定位、超声波探头安装、数据采集、数据分析;
所述清岩,选择需要测定的待测岩面,将需要待测岩面打磨光滑;
所述画线定位,在打磨光滑的待测岩面上沿中心线画一线中心线为探测线;
所述超声波探头安装,将一个发射探头设在探测线一端,接收探头以发射探头为起点、沿探测线移动布设;
所述数据采集,在待测岩面内部岩石存在损伤层界面,即受水-岩作用影响和未受水-岩作用的交界面,当接收探头位于探测点的时,发射探头发射出的超声波按一定的角度入射待测岩面内部,经过损伤层界面以折线传播且再次经过受水-岩作用影响的岩石层到达接收探头;
所述数据分析,实测发射探头发出超声波从待测岩面射入待测岩面内部经损伤层界面折射后再次穿过待测岩面内部达到待测岩面被接收探头的时间t,
L0:发射探头与接收探头的直线距离(m);
a:水-岩作用影响层的厚度;
x:折线AC在水平线上的投影;
v1:超声波在水-岩作用影响层的传播速度(m/s);
v2:超声波在未受水-岩作用影响层的传播速度(m/s);
未知数x根据超声波传播的最短时间确定:确定,即(2);
将(1)式代入(2)式得:
超声波由直线传播过度到折线传播,传播速度v1、v2可由下式确定:
通过以上步骤即可计算出水-岩作用影响层的厚度a。
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