[发明专利]一种提高系统安全性的多重电路在审
申请号: | 201711319355.7 | 申请日: | 2017-12-12 |
公开(公告)号: | CN108152615A | 公开(公告)日: | 2018-06-12 |
发明(设计)人: | 张鹏程;王兵;高翌春;刘晓旭;张铁犁;靳硕;张修建;葛萌;谢阳 | 申请(专利权)人: | 北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 核工业专利中心 11007 | 代理人: | 吕岩甲 |
地址: | 100076 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 标准源 数据采集卡 通道切换卡 检定 系统安全性 被检设备 电路 电学测量系统 安全性设计 自动化检定 标准信号 检定过程 软件安装 信号通道 自动切换 触摸板 电学 两级 预检 显示器 | ||
1.一种提高系统安全性的多重电路,其特征在于:包括便携式PXI机箱、PXI控制器、标准源卡、通道切换卡和数据采集卡;便携式PXI机箱包括显示器、触摸板和PXI总线,PXI总线连接PXI控制器、标准源卡、通道切换卡和数据采集卡;PXI控制器安装在便携式PXI机箱中,检定软件安装在PXI控制器中;标准源卡、通道切换卡和数据采集卡安装在便携式PXI机箱中。
2.根据权利要求1所述的提高系统安全性的多重电路,其特征在于:所述的显示器显示检定流程和检定数据信息,触摸板对检定软件进行操作。
3.根据权利要求1所述的提高系统安全性的多重电路,其特征在于:所述的标准源卡用于对被检电学测量设备提供标准输出信号,可以提供标准电压源和标准电流源信号,根据电学测量设备检定需要,可以扩展信号发生器卡信号源。
4.根据权利要求1所述的提高系统安全性的多重电路,其特征在于:所述的通道切换卡根据检定流程进展到不同步骤,分别将标准源卡的标准信号切换给数据采集卡进行预检或被检设备进行检定,对被检设备采用二重切换设计,任何一个开关切换错误,无法将标准源卡的标准信号提供给被检设备。
5.根据权利要求1所述的提高系统安全性的多重电路,其特征在于:所述的数据采集卡通过通道切换卡将标准信号切换给数据采集卡测量通道,用于对标准源卡输出标准信号进行测量,确保标准源卡输出标准信号符合要求。
6.根据权利要求1所述的提高系统安全性的多重电路,其特征在于:对于连接关系如下的电流测量设备:电流源负端分别与电流预检、被检设备1和被检设备2连接,电流源正端通过继电器P0与电流预检正端连接,通过继电器P1、P2与被检设备1正端连接,通过继电器P3、P4与被检设备2正端连接;电流源作为标准信号,属于标准源卡功能,继电器P0、P1、P2、P3、P4可以自动通断,属于通道切换卡功能,电流预检是对标准电流源进行测试,属于数据采集卡功能,以上板卡作为外围功能板卡通过PXI总线由核心控制器板卡进行控制;
工作过程如下:自动断开所有开关,根据被检设备1要求,自动设置电流源输出电流为X,接通继电器P0,自动测量电流源实际输出电流值,确认是否符合要求,如果不符合要求,自动停止检定程序,如果符合要求,断开继电器P0,接通继电器P1和P2,如果继电器P2和P3任何一个没有接通,则电流不会供给被检设备1,通过继电器P1和P2的正确接通,电流源输出值正确供给被检设备1,根据被检设备1测量电流值大小与标准电流源输出电流进行比较,判定被检设备1是否合格,同理判定被检设备2是否合格。
7.根据权利要求1所述的提高系统安全性的多重电路,其特征在于:对于连接关系如下的电压测量设备:电压源负端分别与电压预检、被检设备11和被检设备12直接连接,电压源正端通过P5继电器与电压预检正端连接,通过继电器P6、P7与被检设备11正端连接,通过继电器P8、P9与被检设备12正端连接;电压源作为标准信号,属于标准源卡功能,继电器P5、P6、P7、P8、P9可以自动通断,属于通道切换卡功能,电压预检是对标准电压源进行测试,属于数据采集卡功能,以上板卡作为外围功能板卡通过PXI总线由核心控制器板卡进行控制;
工作过程如下:自动断开所有开关,根据被检设备11要求,自动设置电压源输出电压为Y,接通继电器P5,自动测量电压源实际输出电压值,确认是否符合要求,如果不符合要求,自动停止检定程序,如果符合要求,断开继电器P5,接通继电器P6和P7,如果继电器P6和P7任何一个没有接通,则电压不会供给被检设备11,通过继电器P6和P7的正确接通,电压源输出值正确供给被检设备11,根据被检设备11测量电压值大小与标准电压源输出电压进行比较,判定被检设备11是否合格,同理判定被检设备12是否合格。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院,未经北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201711319355.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。