[发明专利]一种气体折射率的测量方法和装置有效
申请号: | 201711320790.1 | 申请日: | 2017-12-12 |
公开(公告)号: | CN108037143B | 公开(公告)日: | 2020-06-19 |
发明(设计)人: | 彭亮;李慧霖;陈信伟;程旭升 | 申请(专利权)人: | 湖南科技大学 |
主分类号: | G01N22/00 | 分类号: | G01N22/00 |
代理公司: | 长沙智德知识产权代理事务所(普通合伙) 43207 | 代理人: | 左祝安 |
地址: | 411201 湖南省湘潭市雨*** | 国省代码: | 湖南;43 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 气体 折射率 测量方法 装置 | ||
1.一种气体折射率的测量方法,其特征在于,包括:将待测气体充入气体测量池;将光频率梳正入射进所述气体测量池后进入第一光电探测器;通过频谱仪测量第一光电探测器输出的电信号并采集频谱仪的测量结果;计算出待测气体的折射率,折射率公式为:
其中,c为光速,Δf为所述频谱仪得到的电信号相邻两波峰或波谷之间的频率间隔,d气体测量池中光经过待测气体的长度;
其中,所述光频率梳的形成方法包括:频率为f的窄线宽激光器输出连续光波;所述光波通过保偏光纤耦合器分成两路光信号;光路1的光经过第一相位调制器,该第一相位调制器上施加的调制信号的频率为fm,则该第一相位调制器输出光谱将出现以调制频率为fm整数倍的一系列边带;光路2的光经过第二相位调制器,该第二相位调制器上施加的调制信号的频率为fm+f0,则该第二相位调制器输出光谱将出现以调制频率fm+f0为整数倍的一系列边带;第二相位调制器输出的光再经过声光移频器,移频器上加载的调制信号的频率为fAOM,则经过移频器后,光路2光载波的频率为f+fAOM;光路1和光路2经过单模光纤耦合器后将产生拍频信号而形成光频率梳,光频率梳的频率间隔为f0。
2.根据权利要求1所述的测量方法,其特征在于,所述光频率梳经过单模光纤耦合器后分为两束光,一束光经过气体测量池后进入第一光电探测器中,另一束光直接进入第二光电探测器中作为参考信号。
3.一种气体折射率的测量装置,其特征在于,包括光频率梳产生模块、气体测量池、第一光电探测器、频谱仪、信号采集和处理模块,所述光频率梳产生模块产生的光频率梳,正入射进已充入待测气体的气体测量池后进入第一光电探测器,第一光电探测器产生电信号,频谱仪测量第一光电探测器输出的电信号并通过信号采集和处理模块采集频谱仪的测量结果,计算出待测气体的折射率,折射率公式为:
其中,c为光速,Δf为所述电信号相邻两波峰或波谷之间的频率间隔,d为气体测量池中光经过待测气体的长度;
其中,所述光频率梳产生模块包括窄线宽激光器、保偏光纤耦合器、第一相位调制器、第二相位调制器、移频器、单模光纤耦合器,频率为f的窄线宽激光器输出连续光波;所述光波通过保偏光纤耦合器分成两路光信号;光路1的光经过第一相位调制器,该第一相位调制器上施加的调制信号的频率为fm,则该第一相位调制器输出光谱将出现以调制频率为fm整数倍的一系列边带;光路2的光经过第二相位调制器,该第二相位调制器上施加的调制信号的频率为fm+f0,则该第二相位调制器输出光谱将出现以调制频率fm+f0为整数倍的一系列边带;第二相位调制器输出的光再经过声光移频器,移频器上加载的调制信号的频率为fAOM,则经过移频器后,光路2光载波的频率为f+fAOM;光路1和光路2经过单模光纤耦合器后将产生拍频信号而形成光频率梳,光频率梳的频率间隔为f0,该光频率梳经过光电探测器后,可形成电频率梳信号。
4.根据权利要求3所述的测量装置,其特征在于,所述光路1中还串联有偏振态控制器,用以调节光路1的偏振态使光路1和光路2产生的干涉对比度最佳。
5.根据权利要求3所述的测量装置,其特征在于,所述测量装置还包括第二光电探测器,所述光频率梳经过单模光纤耦合器后分为两束光,一束光经过气体测量池后进入第一光电探测器中,另一束光直接进入第二光电探测器中作为参考信号,其作用是监测频率梳的频率间隔,用以调节系统的测量精度。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于湖南科技大学,未经湖南科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201711320790.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种连续反应直接还原装置及处理物料的方法
- 下一篇:智能计费方法及装置