[发明专利]一种面板检测中表面灰尘快速过滤方法及装置

权利要求书

1.一种面板检测中表面灰尘快速过滤方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1获取面板上表面灰尘为亮点或亮斑的第一检测画面；

S2判断该面板上表面灰尘覆盖量，若灰尘覆盖量为少量则进行步骤s3的操作，若灰尘覆盖量为大量则进行步骤s4操作；

S3将灰尘直接过滤掉；

S4过滤大颗粒的灰尘，并利用灰尘为暗点或暗斑的第二检测画面检出的缺陷再到第一检测画面下进行灰尘复判。

2.根据权利要求1所述的面板检测中表面灰尘快速过滤方法，其特征在于：所述步骤S2中采用阈值分割法对第一检测画面上表面灰尘的覆盖量进行判断。

3.根据权利要求1所述的面板检测中表面灰尘快速过滤方法，其特征在于：所述步骤S3的具体过程如下：

先将图像采用均值滤波进行纹理抑制；

再将原图像减滤波后的图像，并按设定的低灰度阈值分割出图中的全部亮斑，并将结果标记为灰尘。

4.根据权利要求1所述的面板检测中表面灰尘快速过滤方法，其特征在于：所述步骤S4中过滤大颗粒的灰尘采用设置高灰度阈值进行分割。

5.根据权利要求4所述的面板检测中表面灰尘快速过滤方法，其特征在于：所述步骤S4中过滤大颗粒的灰尘具体过程如下：

先将图像采用均值滤波进行纹理抑制；

再将原图像减滤波后的图像，分割出图中的明显亮斑。

6.根据权利要求1所述的面板检测中表面灰尘快速过滤方法，其特征在于：所述步骤S4的具体过程如下：

S41过滤大颗粒的灰尘，则是将检出缺陷位置标记为灰尘；

S42在第二检测画面下，首先判断当前缺陷的被检出结果是否为暗点或暗斑，如果是，则进行步骤S43，否则直接结束；

S43在第一检测画面下判定该缺陷所在位置处是否有亮点或亮斑，如果是则将其标记为灰尘，否则直接结束。

7.根据权利要求1所述的面板检测中表面灰尘快速过滤方法，其特征在于：还包括获取面板下表面灰尘光学检测图片，并采用自动光学检测方法对灰尘进行过滤。

8.一种面板检测中表面灰尘快速过滤装置，其特征在于：所述装置包括：

面板缺陷检测单元，用于获取面板缺陷信息，包括用于获取面板上表面灰尘为亮点或亮斑的第一检测画面；

面板灰尘过滤单元，用于过滤面板灰尘，包括用于判断面板上表面灰尘覆盖量，若灰尘覆盖量为少量则直接将灰尘过滤掉；若灰尘覆盖量为大量则过滤大颗粒的灰尘，并利用灰尘为暗点或暗斑的第二检测画面检出的缺陷再到第一检测画面下进行灰尘复判。

9.一种面板检测中表面灰尘快速过滤装置，其特征在于：所述面板灰尘过滤单元用于过滤大颗粒的灰尘，并利用灰尘为暗点或暗斑的第二检测画面检出的缺陷再到第一检测画面下进行灰尘复判具体操作为：

过滤大颗粒的灰尘，则是将检出缺陷位置标记为灰尘；

在其他画面下，首先判断当前缺陷的被检出结果是否为暗点或暗斑，如果是，则在第一检测画面判定该缺陷所在位置处是否有亮点或亮斑，如果是则将其标记为灰尘，否则直接结束；如果不是则直接结束。

10.一种面板检测中表面灰尘快速过滤装置，其特征在于：所述面板灰尘过滤单元还用于采用自动光学检测方法对面板下表面灰尘进行过滤。