[发明专利]一种软件代码缺陷率统计方法及装置

说明书

本发明提供了一种软件代码缺陷率统计方法及装置，所述方法包括：获取第一时间周期内提交的代码中各类型缺陷的缺陷个数；根据第一时间周期内提交的代码中各类型缺陷的缺陷个数以及各类型缺陷对应的权重计算第一时间周期内缺陷权重值总和；获取第一时间周期内提交的代码量；根据第一时间周期内提交的代码量计算第一时间周期内提交的千行代码数；根据第一时间周期内缺陷权重值总和以及第一时间周期内提交的千行代码数计算第一时间周期内的代码缺陷率。本发明能够自动统计出软件代码的缺陷率，解决了现有技术中代码缺陷统计耗费大量人力且数据不准确的问题。

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，具体涉及一种软件代码缺陷率统计方法及装置。

背景技术

软件研发中，代码缺陷率是评价软件质量的一个重要维度，对于项目、团队及个人代码产出质量的评价具有较大价值。

现有技术在统计代码缺陷率时，往往采用手工统计缺陷个数和代码量的提交，最后再手工计算出各个项目的缺陷率。统计过程耗费大量人力，且数据准确性不高。

发明内容

针对现有技术中的缺陷，本发明提供一种软件代码缺陷率统计方法及装置，本发明能够自动统计出软件代码的缺陷率，解决了现有技术中代码缺陷统计耗费大量人力且数据不准确的问题。

为解决上述技术问题，本发明提供以下技术方案：

第一方面，本发明提供了一种软件代码缺陷率统计方法，包括：

获取第一时间周期内提交的代码中各类型缺陷的缺陷个数；

根据第一时间周期内提交的代码中各类型缺陷的缺陷个数以及各类型缺陷对应的权重计算第一时间周期内缺陷权重值总和；

获取第一时间周期内提交的代码量；

根据第一时间周期内提交的代码量计算第一时间周期内提交的千行代码数；

根据第一时间周期内缺陷权重值总和以及第一时间周期内提交的千行代码数计算第一时间周期内的代码缺陷率。

进一步地，所述获取第一时间周期内提交的代码中各类型缺陷的缺陷个数，包括：

获取第一项目在第一时间周期内提交的代码中各类型缺陷的缺陷个数；

相应地，所述根据第一时间周期内提交的代码中各类型缺陷的缺陷个数以及各类型缺陷对应的权重计算第一时间周期内缺陷权重值总和，包括：

根据第一项目在第一时间周期内提交的代码中各类型缺陷的缺陷个数以及各类型缺陷对应的权重计算第一项目在第一时间周期内的缺陷权重值总和；

相应地，所述获取第一时间周期内提交的代码量，包括：

获取第一项目在第一时间周期内提交的代码量；

相应地，所述根据第一时间周期内提交的代码量计算第一时间周期内提交的千行代码数，包括：

根据第一项目在第一时间周期内提交的代码量计算第一项目在第一时间周期内提交的千行代码数；

相应地，所述根据第一时间周期内缺陷权重值总和以及第一时间周期内提交的千行代码数计算第一时间周期内的代码缺陷率，包括：

根据第一项目在第一时间周期内的缺陷权重值总和以及第一项目在第一时间周期内提交的千行代码数计算第一项目在第一时间周期内的代码缺陷率。

进一步地，所述获取第一项目在第一时间周期内提交的代码中各类型缺陷的缺陷个数，包括：

从与第一项目对应的缺陷数据库中获取第一项目在第一时间周期内提交的代码中各类型缺陷的缺陷个数；其中，与第一项目对应的缺陷数据库根据与第一项目对应的缺陷统计结果不断更新。