[发明专利]太阳能电池片及其制备方法和网版以及方阻和/或接触电阻率的测量方法

说明书

本发明提供了一种太阳能电池片及其制备方法和网版以及方阻和/或接触电阻率的测量方法，涉及太阳能电池技术领域，该用于测量接触电阻率的太阳能电池片，包括n条尺寸相同且平行设置的矩形电极；沿所述矩形电极的长度方向，所述矩形电极与电池片的边缘相交；其中，n≥3，用该太阳能电池片进行电极与硅片的接触电阻率测试能够缓解现有技术的测试结果不准确的技术问题，达到提高测试准确度的技术效果。

技术领域

本发明涉及太阳能电池技术领域，尤其是涉及一种用于测量接触电阻率的太阳能电池片及其制备方法和网版以及方阻和/或接触电阻率的测量方法。

背景技术

太阳电池工艺中，在印刷浆料后会进行烧结工艺，烧结的主要目的一是去除浆料中的水分，使浆料固化，凝结成低电阻率的金属电极；二是使电极与半导体硅片形成良好的欧姆接触，降低电池的填充因子损失，提高电池的效率。通常评判电极与半导体硅片接触好坏的方式是测量它们的接触电阻率，接触电阻率越小，电池的性能越优良。

接触电阻率一般与浆料成分、烧结温度等有关，准确测量接触电阻率有利于帮助太阳能电池生产企业优化浆料成分与烧结温度，以降低接触电阻，提高电池片的填充因子，最终达到提高电池片效率的目的。

当前测试接触电阻率的主要方法一是使用Core scan测试仪，二是使用传输线法(TLM方法)制作特殊电极进行测试。Core scan可以对电池的串联电阻进行分析，间接的反映出接触电阻、薄层电阻、体电阻等信息。但Core scan测试仪价格昂贵，且测试精度不高，可定性分析却无法准确定量，不适合大范围推广。TLM方法是另一种常见的测试接触电阻率的方法，其测试样品图形如图1所示，成本低廉，是当前光伏行业测试接触电阻率的普遍方法，但是根据电池片的实际性能测试来看，TLM方法得到的测试结果也不够准确。

有鉴于此，特提出本发明。

发明内容

本发明的第一目的在于提供一种用于测量接触电阻率的太阳能电池片，用该太阳能电池片进行电极与硅片的接触电阻率测试能够缓解现有技术的测试结果不准确的技术问题。

本发明的第二目的在于提供一种网版用于制备上述太阳能电池片。

本发明的第三目的在于提供一种上述太阳能电池片的制备方法。

本发明的第四目的在于提供一种太阳能电池片方阻和接触电阻率的测量方法，用该方法测试得到接触电阻率更准确。

为了实现本发明的上述目的，特采用以下技术方案：

一种用于测量接触电阻率的太阳能电池片，包括n条尺寸相同且平行设置的矩形电极；沿所述矩形电极的长度方向，所述矩形电极与电池片的边缘相交；

其中，n≥3。

进一步的，所述矩形电极非等间距排列且所述矩形电极间的间距以非等差数列的方式排列。

进一步的，所述矩形电极的宽度为0.1-2mm，优选为0.5-2mm；

优选地，所述矩形电极的长度为0.5-10cm，优选为1-5cm。

进一步的，所述矩形电极间的间距为0.2-20mm，优选为2-20mm。

进一步的，所述矩形电极间的间距之差≥0.2mm，优选为2-20mm。

一种网版，所述网版的印刷图形与上述太阳能电池片中的矩形电极组成的图形相匹配。

一种上述用于测量接触电阻率的太阳能电池片的制备方法，通过印刷在经过镀膜后的硅片表面得到所述矩形电极，之后沿垂直于所述矩形电极的长度方向进行切割，使矩形电极长度方向的两端与切割后硅片的边缘相交，得到所述太阳能电池片。

一种太阳能电池片方阻和/或接触电阻率的测量方法，包括以下步骤：