[发明专利]单片机频率测试系统及方法

权利要求书

1.一种单片机频率测试系统，用于测试测试信号的频率，包括单片机和积分电路，所述单片机设有ADC、I/O脚和ADC脚，所述积分电路设有PW脚，所述PW脚用于输出脉冲信号，所述PW脚接所述I/O脚，所述ADC通过所述ADC脚接所述积分电路，其特征在于，所述单片机还包括：

时钟，用于产生时钟信号；

分频器，用于对所述时钟信号分频，得到具有基准频率的基准信号；

基准频率计数器，计数所述基准信号的周期至M个周期，触发所述积分电路开始充电；

测试频率计数器，计数所述单片机接收的所述测试信号的周期至M个周期，触发所述积分电路保持电平；

其中所述M为大于0的整数，所述ADC测量代表所述基准信号的频率与所述测试信号的频率差值的电压值；

所述积分电路包括电容C1、C2、电阻R1、R2、R3、R4以及三极管Q1，所述电阻R1一端连接所述ADC脚，另一端连接所述三极管Q1的集电极，所述电阻R3一端连接所述PW脚，另一端连接所述三极管Q1的发射极，所述电阻R2一端连接所述三极管Q1的基极，另一端接地，所述电容C1一端连接所述三极管的集电极，另一端接地，所述电阻R4一端连接所述PW脚，另一端连接所述三极管Q1的基极，所述电容C2一端连接所述三极管Q1的基极，另一端接地。

2.根据权利要求1所述的单片机频率测试系统，其特征在于，所述积分电路是恒流源积分电路。

3.根据权利要求1所述的单片机频率测试系统，其特征在于，所述电容C1的电容值是0.01μf，所述电容C2的电容值是0.1μf，所述电阻R1的电阻值是100Ω，所述电阻R2的电阻值是20KΩ，所述电阻R3的电阻值是10KΩ，所述电阻R4的电阻值是7.5KΩ。

4.一种基于权利要求1所述的单片机频率测试系统的频率测试方法，其特征在于，包括如下步骤：

S1、将所述基准信号和所述测试信号分别送到所述基准频率计数器和所述测试频率计数器，设定所述基准信号的频率是基准频率，所述测试信号的频率是测试频率，且所述基准频率大于所述测试频率；

S2、所述基准频率计数器和所述测试频率计数器同时开始计数M个周期，其中，M为大于0的整数；

S3、所述基准频率计数器计数到M值，将所述PW脚置高电平，所述ADC脚置高阻，所述积分电路开始工作；

S4、所述测试频率计数器计数到M值，将所述PW脚置高阻，所述ADC脚置ADC功能，所述积分电路电平保持，所述单片机通过所述ADC测得代表所述测试频率与所述基准频率差值的电压值。

5.根据权利要求4所述的基于所述单片机频率测试系统的频率测试方法，其特征在于，在步骤S4之后还包括步骤：

S5、所述ADC测完所述电压值后，所述ADC脚输出低电平，放掉所述积分电路存储的电荷。

6.根据权利要求4所述的基于所述单片机频率测试系统的频率测试方法，其特征在于，所述电容C1的电容值是0.01μf，所述电容C2的电容值是0.1μf，所述电阻R1的电阻值是100Ω，所述电阻R2的电阻值是20KΩ，所述电阻R3的电阻值是10KΩ，所述电阻R4的电阻值是7.5KΩ。

7.根据权利要求5所述的基于所述单片机频率测试系统的频率测试方法，其特征在于，所述电荷存储于所述电容C1和电容C2。