[发明专利]一种受单片机控制的集成电路的仿真验证方法

说明书

本发明提供了一种受单片机控制的集成电路的仿真验证方法，包括如下步骤：(1)、编写相应的单片机仿真模型，用来模拟单片机；(2)、将该单片机仿真模型与待验证集成电路仿真模型相连，形成顶层测试模块；(3)、编写待测集成电路的单片机测试程序，编译生成可烧录至单片机程序存储器的可执行测试程序；(4)、将可执行测试程序转换成*.memh文件形式；(5)、编写仿真验证测试程序，在仿真验证测试程序中，实例化顶层测试模块，通过$readmemh系统函数，把*.memh文件形式的可执行测试程序加载到单片机仿真模型的程序存储器中；(6)、运行仿真验证测试程序，完成受单片机控制的集成电路仿真验证。本发明提高测试程序的复用性，从而提高了芯片的验证效率。

技术领域

本发明涉及一种受单片机控制的集成电路的仿真验证方法，特别是应用于待验证集成电路是由单片机控制的情况下，该电路可以看作是单片机的一个外部设备，属于半导体数字集成电路仿真验证领域。

背景技术

在数字集成电路的设计过程中，仿真验证是一个重要的环节，在前期它可以检验RTL模型是否能完成预期的功能，在后期还要对包含延迟信息的RTL进行时序仿真。随着电路的集成度越来越高，功能越来越复杂，对仿真验证的要求也越来越高。在大量验证向量的编写过程中，传统的验证方法需要谨慎设置向量变化的时序关系，显得比较繁琐，容易出错，而且很浪费时间。在传统的仿真验证过程中，我们在写测试程序时，需要设置大量延时，来模拟芯片在实际工作时，输入端口数据的改变时间，以满足其建立时间和保持时间的要求。

另外，除了通过软件工具对硬件描述语言编写的芯片进行仿真验证外，通常在后续的芯片制造过程中，还需要进行板级的测试，此时就需要重新编写测试程序，导致浪费了大量的时间。

我们希望找到一种方法，可以快速而准确的产生测试程序，而且使测试程序的复用性足够高，这样就可以大大的提高芯片制造的效率，降低成本。

发明内容

本发明的技术解决的问题是：克服现有技术的不足，提供了一种受单片机控制的集成电路的仿真验证方法。在待验证芯片是由单片机控制的情况下，能够更真实的模拟芯片的实际工作场景，降低产生测试程序的复杂度，并且提高测试程序的复用性，从而提高了芯片的验证效率。

本发明的技术解决方案是：一种受单片机控制的集成电路的仿真验证方法，该方法包括如下步骤：

(1)、根据控制待验证集成电路的单片机型号，采用硬件描述语言，编写相应的单片机仿真模型，用来模拟单片机；

(2)、按照实际电路连接，将该单片机仿真模型与待验证集成电路仿真模型相连，形成顶层测试模块；

(3)、编写待测集成电路的单片机测试程序，对单片机测试程序进行编译生成可烧录至单片机程序存储器的可执行测试程序；

(4)、将可执行测试程序转换成硬件描述语言中的$readmemh命令能够直接读取的*.memh文件形式；

(5)、编写仿真验证测试程序，在仿真验证测试程序中，实例化顶层测试模块，通过$readmemh系统函数，把*.memh文件形式的可执行测试程序加载到单片机仿真模型的程序存储器中；

(6)、运行仿真验证测试程序，完成受单片机控制的集成电路仿真验证。

所述步骤(2)提取可执行测试程序中的有效数据，按照地址递增的顺序排列在新的文件中，并存储为*.memh文件。

所述步骤(4)采用python语言实现。

所述待测集成电路的单片机测试程序根据测试要求确定。

本发明与现有技术相比有益效果为：