[发明专利]基于BIST的板载FPGA中RAM资源遍历测试定位方法

说明书

本发明属于可编程器件验证测试技术领域，具体涉及一种基于BIST的板载FPGA中RAM资源遍历测试定位方法，在FPGA焊接到单板上后，利用FPGA中内建的BIST(Built‑in self‑test)方法，自动遍历测试FPGA中的RAM资源，识别出其中的坏块，并上报RAM坏块的统计结果，包括RAM坏块的个数、位置、错误类型等，从而避免由于RAM坏块引起的FPGA故障。

技术领域

本发明属于可编程器件验证测试技术领域，具体涉及一种基于BIST的板载FPGA中RAM资源遍历测试定位方法，在FPGA焊接到单板上后，利用FPGA中内建的BIST(Built-inself-test)方法，自动遍历测试FPGA中的RAM资源，识别出其中的坏块，并上报RAM坏块的统计结果，包括RAM坏块的个数、位置、错误类型等，从而避免由于RAM坏块引起的FPGA故障。

背景技术

随着现场可编程门阵列(FPGA)芯片在商业、军事、航空航天等领域越来越广泛的应用，其可靠性和可测试性显得尤为重要。所以，对FPGA器件的故障检测、诊断方法以及各种可测性设计技术进行全面深入的研究具有重要的现实意义。

在实际应用环境上测试FPGA，按照实际使用的模式配置FPGA来进行测试，这种测试具有很强的针对性。

发明内容

(一)要解决的技术问题

本发明要解决的技术问题是：如何提供一种基于BIST的板载FPGA中RAM资源遍历测试定位方法。

(二)技术方案

为解决上述技术问题，本发明提供一种基于BIST的板载FPGA中RAM资源遍历测试定位方法，FPGA中包含有多个RAM资源块，并且不同厂家、不同型号的FPGA，其RAM资源块的个数也不同，每个RAM资源块在FPGA中都有固定的位置；

所述方法首先对FPGA中所有的RAM资源块进行编号，将编号和其在FPGA中的位置一一对应，在选定的故障模式下进行测试时，如果某块RAM资源出现故障，就会上报RAM资源块的编号，这样就可以通过编号定位到RAM资源块的位置。

其中，所述方法包括：

步骤一：

首先对FPGA中所有的RAM资源块进行编号，将编号和其在FPGA中的位置一一对应；

步骤二：

板卡上电，开始BIST自动测试；

步骤三：

开始AF故障测试，同时对所有RAM进行写读操作，其中地址由地址生成器进行控制，保证遍历完所有的地址空间；每个存储空间写入的存储数据内容为存储空间对应的地址，这就可以保证对每个存储空间写入不同的存储数据；

写完成后开始读RAM，将读到的数据和写入的数据比较，如果二者不一致，则记录第一错误信息；

步骤四：

在完成步骤三后，开始TF&SAF故障测试，这部分测试分为两个部分：

(1)同时对所有RAM进行写读操作，对所有存储空间写入相同的第一数据，写完成后开始读RAM，将读到的数据和写入的数据比较，如果二者不一致，则记录第二错误信息；

(2)同时对所有RAM进行写读操作，对所有存储空间写入相同的第二数据，写完成后开始读RAM，将读到的数据和写入的数据比较，如果二者不一致，则记录第三错误信息；

通过上述2部分测试可以覆盖TF&SAF故障测试。

步骤五：