[发明专利]OFDM系统的采样频偏矫正方法有效

专利信息
申请号: 201711330796.7 申请日: 2017-12-13
公开(公告)号: CN107948111B 公开(公告)日: 2020-08-14
发明(设计)人: 王海玉;唐晓柯;王连成;迟海明;周春良;李睿 申请(专利权)人: 北京智芯微电子科技有限公司;国网信息通信产业集团有限公司;国家电网公司
主分类号: H04L27/00 分类号: H04L27/00;H04L27/26;H04L27/38
代理公司: 北京中誉威圣知识产权代理有限公司 11279 代理人: 周勇;周际
地址: 100192 北京市海淀区*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: ofdm 系统 采样 矫正 方法
【权利要求书】:

1.一种OFDM系统的采样频偏矫正方法,所述OFDM系统包括信号发射机和信号接收机,其特征在于,所述OFDM系统的采样频偏矫正方法的步骤包括:

计算采样频偏,将所述信号发射机发送的基准时间戳BTS与所述信号接收机的本地计数器LCM做对比,计算出采样频偏FreqError和补偿值Offset;以及

频偏矫正,根据所述补偿值的大小对所述信号接收机的采样信号进行插值或是抽取处理;

其中,所述采样频偏FreqError和补偿值Offset的公式如下:

Offset(n)=Offset(n-1)+BTS(n-1)-LCM(n-1)

其中n代表采样的周期,BTS(0)代表所述信号发射机发射的BTS的初值,LCM(0)代表所述信号接收机的LCM的初值。

2.根据权利要求1所述的OFDM系统的采样频偏矫正方法,其特征在于,进行所述频偏矫正时,当Offset0时,表明采样相位滞后于实际相位,需要对采样信号进行插值处理;当Offset=0时,表明采样相位与实际相位重合,不需要矫正处理;当Offset0时,表明采样相位超前实际相位,需要对采样信号作抽取处理。

3.根据权利要求1所述的OFDM系统的采样频偏矫正方法,其特征在于,对所述采样信号的插值或抽取处理由插值滤波器完成,根据分段抛物线插值理论得到要插入或抽取的数据。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京智芯微电子科技有限公司;国网信息通信产业集团有限公司;国家电网公司,未经北京智芯微电子科技有限公司;国网信息通信产业集团有限公司;国家电网公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201711330796.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top