[发明专利]电感耦合等离子体发射光谱法测定硅铁中硫含量的方法在审
申请号: | 201711332187.5 | 申请日: | 2017-12-13 |
公开(公告)号: | CN108020541A | 公开(公告)日: | 2018-05-11 |
发明(设计)人: | 周扬杰;连小安 | 申请(专利权)人: | 福建省冶金产品质量监督检验站 |
主分类号: | G01N21/73 | 分类号: | G01N21/73;G01N1/44 |
代理公司: | 福州智理专利代理有限公司 35208 | 代理人: | 王义星 |
地址: | 350011 福建*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电感 耦合 等离子体 发射光谱 测定 硅铁中硫 含量 方法 | ||
1.一种电感耦合等离子体发射光谱法测定硅铁中硫含量的方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)称样:采用精密称量设备称取2.000g的硅铁样品,称取精度精确到0.0001g;
(2)将硅铁样品消解,配制待测溶液;
(3)将高纯铁溶解后,向体系中分别加入不同体积的硫标准溶液,配置成标准系列溶液;
(4)将标准系列溶液在电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-AES)上,选择182.034波长谱线作为硫的分析谱线,测量其发射强度,然后以硫元素的浓度为横坐标、分析线的强度为纵坐标,绘制工作曲线,得出线性方程;
(5)将待测溶液引入电感耦合等离子体发射光谱仪,测定待测溶液中硫元素的分析线强度;
(6)根据线性方程计算出待测溶液中的硫元素的浓度,然后计算待测样品中的硫的质量分数。
2.根据权利要求1所述的电感耦合等离子体发射光谱法测定硅铁中硫含量的方法,其特征在于:所述步骤⑴中的精密称量设备为精密电子天平。
3.根据权利要求1所述的电感耦合等离子体发射光谱法测定硅铁中硫含量的方法,其特征在于,所述步骤(2)具体包括以下步骤:将硅铁样品置于300mL聚四氟乙烯烧杯中,加少量水充分润湿样品后加入10mL溴水、20mL硝酸,边摇边逐滴加入20-30mL氢氟酸,注意保持样品缓慢分解;待样品溶清后加入20mL高氯酸,用少量水冲洗杯壁,加热蒸发冒高氯酸烟至溶液体积10-15mL,取下稍冷,用少量水冲洗杯壁,继续加热至冒高氯酸烟,使溶液体积为3-5mL;加入50mL水,加热至溶液清亮,取下冷却,将溶液转移到100mL容量瓶中,用水定量到刻度,混匀。
4.根据权利要求1-3任一所述的电感耦合等离子体发射光谱法测定硅铁中硫含量的方法,其特征在于,所述步骤(3)具体包括以下步骤:称取0.5 g高纯铁6份于100 mL钢铁量瓶中,加10mL王水溶解,再加入5 mL高氯酸,加热至冒烟1min后取下冷却,加50mL水加热至溶液清亮,取下冷却;向体系中分别加入不同体积的硫标准溶液,配制成0.00mg/L、0.50mg/L、1.0mg/L、2.0mg/L、5.0mg/L、10.0mg/L标准系列溶液。
5.根据权利要求4所述的电感耦合等离子体发射光谱法测定硅铁中硫含量的方法,其特征在于,所述的高纯铁中铁的质量分数大于99.9%。
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