[发明专利]一种3D膜的校正方法及系统

权利要求书

1.一种3D膜的校正方法，其特征在于，包括：

A、控制贴有3D膜的第一终端根据3D膜的参数值，生成交织测试图，并通过所述3D膜展示生成的交织测试图；

B、控制第二终端中的摄像头以设定的拍摄角度，对通过3D膜展示的交织测试图进行拍摄，以得到条纹图像；

C、依据所述条纹图像的实际频率值和预先设定的期望频率值，确定3D膜的新参数值，并返回执行步骤A，直到满足设定的参数校正条件为止，通过迭代计算使条纹图像的实际频率值和期望频率值不断逼近。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，依据所述条纹图像的实际频率值和期望频率值，确定3D膜的新参数值，包括：

依据如下公式，确定3D膜的水平方向上新柱状透镜线距值和垂直方向上新柱状透镜线距值：

hpitch_new＝hpitch/[1+hpitch×(hD-hd)/hR]；

vpitch_new＝vpitch/[1+vpitch×(vD-vd)/vR]；

其中，hpitch_new为3D膜沿水平方向的新柱状透镜线距值，hpitch为3D膜沿水平方向的柱状透镜线距值，hD为沿水平方向的期望频率值，hd为条纹图像沿水平方向的实际频率值，hR为第一终端中屏幕沿水平方向的分辨率；vpitch_new为3D膜沿垂直方向的新柱状透镜线距值，vpitch为3D膜沿垂直方向的柱状透镜线距值，vD为沿垂直方向的期望频率值，vd为条纹图像沿垂直方向的实际频率值，vR为第一终端中屏幕沿垂直方向的分辨率。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，确定3D膜的新柱状透镜线距值之后，还包括：

依据3D膜的水平方向上新柱状透镜线距值和垂直方向上新柱状透镜线距值，确定3D膜的新斜率值。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，第二终端中摄像头与第一终端中屏幕之间的角度范围为(85°，95°)。

5.根据权利要求1-4任一项所述的方法，其特征在于，所述参数校正条件为3D膜的新参数值的数量大于设定阈值。

6.根据权利要求1-4任一项所述的方法，其特征在于，所述参数校正条件为所述条纹图像的平均灰度值与第一灰度值之间的差值小于第一灰度阈值；或者，所述条纹图像的平均灰度值与第二灰度值之间的差值小于第二灰度阈值，其中所述第一灰度值是255，所述第二灰度值是0。

7.一种3D膜的校正系统，其特征在于，包括通讯连接的第一终端和第二终端，且第一终端的屏幕贴有3D膜，所述第二终端中设置有摄像头，所述3D膜的校正系统用于执行如下操作：

A、控制贴有3D膜的第一终端根据3D膜的参数值，生成交织测试图，并通过所述3D膜展示生成的交织测试图；

B、控制第二终端中的摄像头以设定的拍摄角度，对通过3D膜展示的交织测试图进行拍摄，以得到条纹图像；

C、依据所述条纹图像的实际频率值和预先设定的期望频率值，确定3D膜的新参数值，并返回执行步骤A，直到满足设定的参数校正条件为止，通过迭代计算使条纹图像的实际频率值和期望频率值不断逼近。

8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，

所述第一终端或所述第二终端依据如下公式，确定3D膜的水平方向上新柱状透镜线距值和垂直方向上新柱状透镜线距值：

hpitch_new＝hpitch/[1+hpitch×(hD-hd)/hR]；

vpitch_new＝vpitch/[1+vpitch×(vD-vd)/vR]；

其中，hpitch_new为3D膜沿水平方向的新柱状透镜线距pitch值，hpitch为3D膜沿水平方向的柱状透镜线距值，hD为沿水平方向的期望频率值，hd为条纹图像沿水平方向的实际频率值，hR为第一终端中屏幕沿水平方向的分辨率；vpitch_new为3D膜沿垂直方向的新柱状透镜线距值，vpitch为3D膜沿垂直方向的柱状透镜线距值，vD为沿垂直方向的期望频率值，vd为条纹图像沿垂直方向的实际频率值，vR为第一终端中屏幕沿垂直方向的分辨率。